Het opsporen Meer Nanodeeltjes en het versnellen van de verkrijging door een enorme hoeveelheid

Published on July 30, 2009 at 9:26 AM

Oxford Instruments 'toonaangevende automatische functie en analyse van deeltjes systeem is nu leverbaar met nieuwe foto acquisitie hardware INCAmicsF + voor een nog snellere en meer accurate data-acquisitie.

INCAmicsF + bevat nieuwe Fast Response Microprocessor (FRM) technologie om kleinere deeltjes minstens 3x sneller op te sporen. In combinatie met de revolutionaire X-Max groot gebied silicium detector drift, functie-analyse kan nu worden gedaan in een fractie van de tijd. Sampling tijden kunnen nu worden gemeten in minuten in plaats van uren.

"Geautomatiseerde feature detectie en analyse in een SEM is een belangrijke techniek in veel toepassingsgebieden waaronder GSR, staal insluitsels, voertuig motoren, harde schijven en toezicht op het milieu", zegt James Holland, Applications Manager bij Oxford Instruments nano-analyse. "Het gebruik van FeatureMax we in staat zijn geweest om meer te detecteren nano-deeltjes en bespoediging van overname door een enorme hoeveelheid. Deze winst in nauwkeurigheid en productiviteit zal grote voordelen bieden in al deze toepassingen en nog veel meer."

Last Update: 3. October 2011 09:05

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit