Nanometrics Включало (NASDAQ: NANO), ведущий поставщик предварительных систем метрологии управления производственным процессом используемых главным образом в изготавливании и упаковывать полупроводников, солнечного photovoltaics и СИД высок-яркости, сегодня объявили заказ многоэлементной системы для своей системы метрологии верхнего слоя Мозаики Крумциркуля. Системы будут использованы в продукции работая совместно с технологией цели верхнего слоя Цветения и ожидано, что поставлены и квалифицированы в третей четверти 2009.
Системы Мозаики Крумциркуля были приказаны как следование дальше к начальной системе закупленной в 2008 от ведущего изготовления ДРАХМЫ для высокообъемного управления производственным процессом литографированием. Клиент также закупит лицензии для технологии цели верхнего слоя Цветения.
«Цветение overlay метка, при использовании совместно с нашими системами Мозаики Крумциркуля позволяет клиенты расширить их известные технологии метрологии пока продолжающ для того чтобы leverage улучшения в точности и объём,» прокомментированный Nigel Смит, Директор Технологии Продукта Верхнего Слоя на Nanometrics. «Технология Цветения приобретает тракцию по мере того как алтернатива к установленной цели замышляет по мере того как она позволяет наши клиенты измерить до 28 слоев в одно время. Эта одновременная разнослоистая возможность измерения специально полезна в двойных делая по образцу процессах, предлагая точность лучшего возможного для предварительного управления производственным процессом литографированием критических слоев, пока существенно уменьшающ требования к полной цели недвижимые.»