Posted in | Quantum Dots | Nanomaterials

Исследователя NIST Начинают Метод ДНА Origami для того чтобы Собрать Nanostructures

Published on March 8, 2012 at 4:35 AM

Камероном Chai

В недавних временах, исследователя обуздывают молекулярное машинное оборудование ДНА для строя структур nanolevel искусственних используя спаривая способность ДНА сформировать осложненные структуры. Это «origami ДНА» помогает собрать nanostructures как датчики, средство доставки снадобья и полупроводниковые устройства.

«Origami ДНА: Сделанные исследователя NIST 3 конструированными шаблонами origami ДНА так как многоточия суммы аранжировали бы: (a в углах, b) раскосно (3 многоточия), и (c в линии (4 многоточиях). Исследователя нашли, что то положило близкое многоточий суммы совместно причиненное их для того чтобы помешать с одним другое, водящ к более высоким частотам повторения ошибок и понизить прочность скрепления.»

Алекс Liddle, исследователь на NIST, сказало что собирать подобен к зданию LEGO где некоторые вставляют фирму и плотно, и другие вставляют свободно.

В методе origami ДНА, длинняя резьба ДНА положена вниз и «прикреплены штапеля» состоя из комплементарных стренг. Штапеля связывают к резьбе ДНА и после этого складывают в различные формы как квадрат, треугольник и прямоугольник. Эти формы подействуют как шаблон к которому материалы nanoscale как многоточия и nanoparticles суммы прикреплены через молекулы линкера.

Научные работники измерили скорость, точность, размечать агрегата, и прочность скрепления nanoparticles к шаблону origami ДНА.

Заключения показали то около 24 h необходим для агрегата собственной личности 4 многоточий суммы в прямоугольнике origami 70x100 nm. Частота повторения ошибок вокруг 5%.

Частота повторения ошибок была более высока когда многоточия были помещены в центре шаблона origami ДНА. Диаметр может быть увеличен путем покрывать многоточия с биоматериалами. Когда диаметр увеличен до 20 nm, многоточия не помещены близко и они клонат помешать друг с другом пока собирающ. Это уменьшит прочность скрепления и увеличит частоту повторения ошибок. Это большей частью наблюдается в картинах 4-многоточия.

Liddle заявило что этот метод может быть эффективно прикладной для поставки и датчиков снадобья. Однако, он не может быть прикладной к полупроводникам должным более высоко для того чтобы дистанцировать и частоте повторения ошибок.

Источник: http://www.nist.gov/

Last Update: 8. March 2012 05:23

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit