Posted in | Nanoanalysis

Système de Profilage Extérieur de 100th Stylet de DektakXT de Bateau de Bruker

Published on April 3, 2012 at 12:05 AM

La Division de Surfaces de Nano de Bruker (Tucson, AZ) a expédié le Système de Profilage Extérieur de Stylet de 100 DektakXT depuis que le produit a lancé en avril dernier.

Le Système de Profilage Extérieur de Stylet de Bruker 100 DektakXT™.

Le DektakXT comporte la simplicité d'utilisation améliorée et la meilleure répétabilité de hauteur de la phase de l'industrie de meilleur que 5 angströms, 1 sigma. Ceux-ci et d'autres caractéristiques du fonctionnement ont déjà effectué à DektakXT l'industriellement compatible neuf pour surveiller le dépôt de film mince et corrodent des systèmes dans solaire, FPD, HBLED, et recherche de semi-conducteur.

« Nous sommes enchantés pour sélecter Dektak XT comme méthode de contrôle qualité au système à régulation de processus de Jinjing, » indiqué, M. Sun, Responsable Qualité pour le Groupe de Jinjing en Chine, qui a acheté le 100th système. « La décision a été prise non seulement basée sur l'expérience précédente avec des profileurs de Dektak, mais également parce que les profileurs de Dektak sont les outils populaires sur le marché solaire de la Chine pour SI-Basé et l'industrie solaire de film mince. De plus, nous sommes réellement heureux de voir les caractéristiques techniques neuves que le DektakXT offre. » « DektakXT combine les meilleures caractéristiques techniques de dix rétablissements des profileurs de stylet de Dektak et ajoute des améliorations appréciables dans la répétabilité de mesure, la simplicité d'utilisation et la souplesse, » le Robert Loiterman expliqué, le Vice Président Exécutif et Directeur Général du Stylet de Bruker et des Affaires Optiques de Métrologie. « Nous sommes satisfaits avec son adoption rapide en tant qu'industriellement compatible et cela ses fonctionnalités et performances fournissent nos capacités et valeur améliorées d'abonnées sur beaucoup de marchés. »

Le DektakXT comporte une référence neuve de sous-système et optique de marbre ë/10 de lecture qui améliore la stabilité de spécification de base avec des vitesses de jusqu'à quarante pour cent plus rapides d'échographie, tout en préservant l'exactitude de système légendaire de Dektak. Équipé du logiciel Vision64, DektakXT est le premier profileur de stylet pour comporter une architecture logiciel de traitement en simultanéité 64-bit et qui accélère grand l'acquisition de données et l'analyse. Il comporte un mode neuf de « Rapide-Analyseur » avec rapide, une analyse de bouton de tels paramètres comme la hauteur de phase et la texture moyennes de surface. C'est également le premier profileur de stylet pour supporter une haute définition, l'appareil-photo de vrai-couleur pour la définition améliorée et la clarté d'image des surfaces témoin. En Conclusion, DektakXT utilise le seul design principal à un seul capteur de Dektak pour la souplesse optima de lecture et la caractéristique technique « d'Échange Facile d'Extrémité » qui permet à l'échange rapide des extrémités de stylet d'adresser un large éventail d'applications.

Last Update: 3. April 2012 02:51

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit