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Posted in | Nanomaterials

牛津仪器改革与新的 X 最大硅偏差探测器的 EDS

Published on October 14, 2008 at 9:54 AM

再次,牛津仪器改革了 EDS! 其新的 X 最大硅偏差探测器 (SDD)现在提供电子显微镜家以最大的区探测器曾经在十倍期间常规 EDS 探测器多面角。

“此产品已经更改人们考虑 EDS 的方式。 不再有在生产率和准确性之间的妥协。 这些新的大区 SDDs 我们达到国际水平的分析以只几年前是不可思议的速度”。 丹 Varnam,新产品简介主任,说 “这是我的事业最扣人心弦的生成。 ”

X 最大分析 SDD 探测器进来范围的范围自 20mm2 至一未清 80mm2。 在性能的妥协不允许,并且探测器达到解决方法下来对与处理量的 123eV 超出 100,000 cps (计数每秒)。

乘那的获取角度十传统 SDDs,新的 X 最大罐头:

  • 快速地会集数据 10x - 大量增长的 SEM 生产率
  • 收集数据在 10x 更低的射线当前 - 使真的纳诺分析成为可能在纳诺缩放比例微粒和功能
  • 收集在更小的 SDD 的第 10 的等同的数据需时 - 减少范例污秽的机会
  • 运行以计数费率远远超出 100,000cps -,无需损坏这个范例

新的探测器的一个主要好处是所有这些改善来,不用在解决方法或准确分析的任何妥协。 与领先市场的印加人 EDS 软件结合,这个系统保留分析准确性,并且可用性牛津仪器是显耀的为 - 与 10 次现在只请改善生产率!

这台探测器有一段时间了 trialled 与关键用户。 菲尔罗素,物理和科学教育著名的教授博士在阿巴拉契亚州立大学在美国说 “我现在与此系统一起使用一定数量的月和上午的非常留下深刻印象对我取得了对此的结果。 它提供这个功能执行我在通常不会设法执行 SEM 的实验,并且与被改进的区分和增加的计数费率允许我调查 Nanostructured 材料和设备在难以置信的详细资料。 没有更改任何东西除了我的探测器,我对分析一个新的世界突然被开张了”。

Last Update: 14. January 2012 11:55

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