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Posted in | Nanobusiness

Canon d'Ion de Césium de Lancement de Hiden pour la Mesure des Éléments Électronégatifs

Published on January 29, 2009 at 10:46 AM

Hiden Analytique introduisent le Canon d'Ion neuf de Césium d'IG-5C pour des applications primaires de faisceau d'ions dans la mesure de SIMS des éléments électronégatifs et pour des analyses de batterie de césium. Avec la seule source d'ions de basse puissance, de haut-brilliance, le fléau compact d'ion et le module de pointage du faisceau que le canon s'avère idéalement adapté à dynamique, la charge statique et la représentation SIMS.

La poutre forte des ions de césium produits à partir de la source extérieure d'ionisation est hautement orientée et produit d'un bas réglable de taille d'endroit à juste 20 microns. L'assemblage de source d'ions est contrat, auto-dressant et simple pour remonter. L'énergie de Poutre est variable de 5kev à 0.5kev, avec des courants de poutre à 150nA. La bride de support est l'aile horizontale De type Conflat de diamètre de 2.75inch/70mm et l'ensemble est différentiel pompé pour mettre à jour de véritables pressions d'UHV.

Le Contrôle de l'IG-5C est par l'intermédiaire d'une surface adjacente Pour PC permettant l'installation facile et reproductible. Les contrôles de surface adjacente les paramètres d'électrode et le management thermique de la source d'ions, et fournit des options de configuration pour des applications d'endroit à forte intensité et petites. La trame de poutre peut être extérieurement pilotée avec du temps minimum de mouvement circulaire de 64 micro-secondes et par un fléchissement de poutre de +/-4mm. Une trame interne de préréglage est supplémentaire donnée pour des demandes de règlement de préparation de la surface. Le raccordement Direct avec un détecteur de MAXIME ou d'EQS SIMS de Hiden active le signe robotisé déclenchant pour la saisie de la représentation de données et de surface de n'importe quelle zone prédéfinie dans la surface balayée par total.

Last Update: 17. January 2012 06:02

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