Intégration Parfaite de Photomicroscopie Et d'Images d'AFM

Les Instruments de JPK, un monde-principal constructeur de l'instrumentation nanoanalytic pour la recherche en sciences de la vie et substance molle, fournit un seul progiciel pour effectuer à l'affichage des images de photomicroscopie avec des images atomiques de microscopie de force un exercice sans joint. Ce module est DirectOverlay appelé.

La microscopie Atomique de force (AFM) est un puissant outil pour vérifier une grande variété de différents échantillons avec la définition d'échelle de nanomètre dans des conditions physiologiques. Aussi bien que fournir des mesures topographiques, des informations sur des forces d'interaction et les propriétés mécaniques comme l'adhérence et l'élasticité peuvent également être obtenues. L'intégration Parfaite de l'AFM avec une installation optique peut augmenter la gamme d'applications et ouvrir beaucoup de possibilités pour marquer l'information structurelle avec l'information optique telle que l'écriture de labels functionalized de certains composants.

Un exemple de l'alimentation électrique de DirectOverlay de JPK : Une image de fluorescence met en valeur trois Molécules d'ADN étiquetées par personne tandis que l'image 3D change de plan dedans à une image de haute résolution de 700nm AFM. (Accueil d'Échantillon de M.M. Modesti, CNRS Marseille)

Pour réaliser la combinaison parfaite du bloc optique et de l'AFM à l'échelle moléculaire, des déformations doivent être évitées. Ceci aura comme conséquence deux images, telles que les images optiques et d'AFM, qui ne recouvrent pas parfaitement. Les Raisons des déformations comprennent des aberrations résultant des objectifs et des miroirs du système de bloc optique. Cet étirement non linéaire, tournant et compensant des images optiques sont présent dans presque tous les types d'installations optiques.

Pour produire d'un transparent sans joint des deux techniques, JPK a développé une méthode tranchante d'étalonnage, DirectOverlay appelé, qui emploie l'exactitude du système en boucle bloquée de lecture d'AFM pour activer un affichage vrai des cornières et des coordonnées absolues de longueur. La procédure d'étalonnage est faite automatiquement et utilise les positions connues et les décalages de l'encorbellement pour étalonner l'image optique dans l'AFM combine. Pour produire d'une correspondance parfaite de l'optique et image d'AFM, 25 remarques ou plus sont utilisées dans l'algorithme d'étalonnage. À chaque remarque, une image optique est saisie et la position de l'extrémité en porte-à-faux est automatiquement trouvée dans chaque image optique sans avoir besoin de puissance d'entrée sur la cornière, la forme ou l'agrandissement en porte-à-faux. L'algorithme exécute alors une conversion non linéaire et, en conséquence, l'image optique est rectifiée pour toutes les imperfections de lentille et converti en longueur linéarisée d'AFM combine. Ceci fournit une intégration parfaite d'optique et les données d'AFM avec la sous-diffraction limitent la précision.

En Conclusion, l'image optique étalonnée est transférée dans le logiciel de JPK SPM, de sorte que des régions d'échographie d'AFM puissent être sélectées dans l'image optique. Dirigez la sélection « dans image optique » des mesures d'AFM (représentation, mappage et spectroscopie de force) mène à des expériences plus efficaces et réduit excessivement la lecture d'image de synthèse dans l'AFM.

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