JPK の器械の進水の NanoWizard 3 NanoOptics AFM システム

JPK の器械、世界一流の製造業者および生命科学の研究のための nanoanalytic 器械使用の柔らかい問題は、 NanoWizard 3 NanoOptics AFM システムのアベイラビリティの発表を用いる高性能の研究システムの系列を拡大し続けます。

ここ十年間、 nanoscale の光学現象はエキサイティングな研究分野に成長しました。 Nanoscale のライトおよび問題との特に相互作用を調査するためには、研究者はナノメーターの空間分解能の方法を捜します。 ライトによって顕微鏡検査得られる技術およびスキャンのプローブの顕微鏡検査の組合せは強力な解決です。 このいわゆるほぼフィールド光学顕微鏡検査は副波長の解像度のサンプル表面からの光学情報を提供します。

JPK の進水 NanoWizard®3 NanoOptics AFM システム。

JPK は SPM および光学のための新しい章を開始する 2003 年にラマン分光計に最初に NanoWizard AFM をつなぎました。 強い nano 光学コミュニティとの関係を構築することは、世界的の住宅建築業者およびユーザーと協力して JPK がより強力で、より適用範囲が広いシステムを開発することを可能にしました。 JPK は技術、特に光学の AFM の結合を強く信じます。 これはライトとの TERS/SERS を含む新規アプリケーションのフィールドを、先端高められた蛍光性、 nanomanipulation、染料のような光学的に動的機器の化学表面の分析および混合の検出、 metamaterials、開発、マーカー、光源およびスイッチ開発しました。 多数のユーザー書はこの技術のアプローチの成功に下線を引きます。 ここで、 JPK は AFM および光学 - NanoWizard3 NanoOptics システムのための最新のプラットホームをもたらします。

NanoWizard NanoOptics ヘッドは上および底から、また前部および側面からサンプルへの優秀で物理的な、光学アクセスとヘッドおよびコンデンサーがきちんと整っている時でさえ、来ます。 さらに、それにファイバー SNOM のアプリケーションのための統合されたポートがあります。

新しいシステムは開口によって nanoscale の光学イメージ投射からのおよびライトの相互作用を吸収、刺激、非線形効果のようなサンプルと含み、癒やす実験に分散タイプ SNOM 広い応用範囲の準備ができています。 これらは NanoOptics ヘッドおよび音さのモジュールの統合されたファイバー SNOM ポートが技術の容易な統合を可能にする開口ファイバー SNOM の実験を含んでいます。

NanoWizard3 NanoOptics AFM は多数の構成で使用することができます。 AFM システムはもっとたくさんのアプリケーションに使用することができます。 インターフェイスさせ、 ForceRobot300 および CellHesion200 のような異なったヘッドを実行するか、または TopViewOptics を使用することもまた可能です。

JPK のユーザーからの例のもっとたくさんのアプリケーション領域を世界中から示す広範囲のパンフレットは使用できます。 JPK はドイツの精密工学、品質および機能性の世界認識された標準にドイツの器械使用を開発し、設計し、そして製造します。

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