Caratterizzazione di Nanostructures Facendo Uso Del Metodo dello SGOMBRO di PeakForce

Dagli Editori di AZoNano

Indice

Introduzione
Caratterizzazione di Nanostructures
Selezione della Sonda nello SGOMBRO di PeakForce
Conclusioni
Bruker

Introduzione

Modulo di Nanostructures il Web su cui una serie di apparecchi elettronici sono sviluppati. Di Conseguenza, è importante analizzare e studiare le loro strutture elettriche. Le sezioni successive forniscono un'analisi dettagliata dei dati raccolti studiando i campioni delicati facendo uso del metodo dello SGOMBRO di PeakForce.

Caratterizzazione di Nanostructures

La topografia e la mappa corrente ottenute con il metodo dello SGOMBRO di PeakForce applicato sui nanotubes del carbonio che sono connessi ai cuscinetti conduttivi collocati sopra il substrato2 di SiO/Si è rappresentata nella Figura 1.

(a)

(b)

Figura 1. topografia di immagini dello SGOMBRO di PeakForce (a) (b) mappa corrente dei nanotubes del carbonio che si trovano pianamente su un campione2 di SiO/Si. Le Immagini sono state catturate sul Dimension® Icon® AFM di Bruker nei termini ambientali, con una sonda di SCM-PIT (costante della sorgente ~4N/m), scansione 5micron ad una tendenziosità del campione di CC di 500mV. Cortesia del Campione di Prof. Aia, Rice University.

L'immagine topografica mostra chiaramente tutti i nanotubes, che implica che tutti siano conduttori connessi ai cuscinetti conduttivi. Le nanoparticelle densamente imballate anche rivelarici di immagine, che probabilmente sono residui si sono formate durante la formazione del campione. La conducibilità di queste particelle non può essere analizzata poichè non sono connesse ai cuscinetti di conduzione. Questo punto è confermato dalla loro assenza nella mappa corrente. Una variazione nella conducibilità è stata osservata su cui potrebbe essere attribuito alla loro presenza o lungo i tubi. Sebbene i nanotubes siano delicati, possono essere spinti con il suggerimento del AFM (per il Modo di Contatto AFM) poichè il substrato è duro. Nel usando lo SGOMBRO di PeakForce, il suggerimento di SCM-PIT (platino-iridio ricoperto) può essere tollerato per le ore estese senza il substrato che lo erode.

Per fare uno studio comparativo, lo stesso campione era imaged facendo uso del metodo Di Torsione dello SGOMBRO. È stato osservato che la traccia della conducibilità era molto più ampia, in grado di essere dovuto tremare laterale della sonda del AFM durante l'uso. Calcoli il presente di b e di 2alle immagini dello SGOMBRO di PeakForce della stuoia dei nanotubes del carbonio che è verticale e multi-murata e collocata su un substrato conduttivo.

Figura 2. disgaggio di topografia 50nm di immagini dello SGOMBRO di PeakForce (a) (b) la mappa del picco di corrente (1 disgaggio del Na) di un verticale multi-ha murato la stuoia del nanotube del carbonio su un substrato conduttivo. Le Immagini sono state catturate sui 8 Misti AFM di Bruker in ambientale, con la sonda di SCM-PIT (costante della sorgente ~4N/m), scansione di 1ìm ad una forza di punta di 10nN e ad una tendenziosità di CC di -1V. Immagini di TR-TUNA (c) disgaggio 100nm (d) mappa corrente (disgaggio 1nA) di topografia per il confronto.

L'immagine mostra i cappucci protettivi dei nanotubes. Nella mappa corrente, la conducibilità non è stata indicata da tutti i nanotubes multi-murati, gruppi piuttosto differenti indicati le variazioni nella conducibilità. Questa variazione potrebbe essere dovuto la differenza nel modo in cui i nanotubes sono connessi o l'effetto del coperchiamento sui tubi. Quando il Modo di Contatto è stato utilizzato nella rappresentazione nessun'immagine stabile è stata ottenuta; lo SGOMBRO di torsione ha dato un'immagine corrente che ha differito da quella ottenuta dallo SGOMBRO di PeakForce. Le immagini dello SGOMBRO di TR hanno rappresentato molti punti interrotti sui singoli tubi che forse dovuto la torsione laterale che causa il contatto elettrico intermittente con la superficie.

Selezione della Sonda nello SGOMBRO di PeakForce

Mentre scelgono la sonda dello SGOMBRO di PeakForce di destra, la sorgente costante ed il materiale di rivestimento conduttivo sono fattori importanti da considerare. Le ultime sonde di Bruker sono progettate per uso con i campioni delicati molli. Le sonde sono ricoperte d'oro (Au) che ha costanti della sorgente nell'ordine di 0.4N/m. Le sonde di SCM-PIT hanno un rivestimento dell'platino-iridio e balzano costante di circa 3N/m e sono adatte a lavoro con i campioni fragili come i nanostructures senza bloccare limitati. Per la caratterizzazione organica delle cellule, le sonde del silicio che sono ricoperte di metallo di funzione del basso lavoro sono più adatte.

Conclusioni

Il metodo dello SGOMBRO di PeakForce una volta applicato facendo uso della tecnologia di Spillatura della Forza Di Punta di Bruker è capace della produzione della larghezza di banda alta-, progettazione a basso rumore dell'amplificatore corrente con le funzionalità di alto-guadagno. Punteggi di metodo dello SGOMBRO di PeakForce sopra tutti i altri metodi del AFM in potere lavorare con i campioni fragili. La rappresentazione del AFM raggiunta facendo uso di questo metodo è dell'alta risoluzione e dell'accuratezza. Inoltre, l'algoritmo di ScanAsyst che viene con lo SGOMBRO di PeakForce semplifica l'ottimizzazione dei parametri della scansione del AFM. Questo metodo permette che la Forza Di Punta QNM (nanomechanical quantitativo) egualmente sia mappata, che fornisce i dati dettagliati sulle informazioni elettriche con la topografia. La scatola per guanti del Bruker è una funzionalità aggiunta, che cattura la cura di manipolazione dei campioni aero sensibili correttamente.

Bruker

Le Superfici Nane di Bruker fornisce i prodotti Atomici del Microscopio della Forza/del Microscopio Sonda di Scansione (AFM/SPM) che stanno fuori da altri sistemi disponibili nel commercio per la loro progettazione e facilità di uso robuste, mentre mantenendo il più di alta risoluzione. La testa di misurazione di NANOS, che fa parte di tutti gli nostri strumenti, impiega un interferometro a fibra ottica unico per la misurazione della deformazione a mensola, che fa il compatto di impostazione così che è non più grande di un obiettivo standard del microscopio della ricerca.

Questi informazioni sono state originarie, esaminate ed adattate dai materiali forniti dalle Superfici Nane di Bruker.

Per ulteriori informazioni su questa sorgente visualizzi prego le Superfici Nane di Bruker.

Date Added: Apr 18, 2011 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:14

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