J.A. Woollam 阿尔法 SE 分光镜 Ellipsometer

对于薄膜厚度和 R.i. 的定期评定,阿尔法SE® 是一个巨大解决方法。 设计为易用: 请挂接一个范例,选择符合您的影片的设计和新闻评定。 您在几秒钟内有结果。

为什么阿尔法 SE ?

易用
与照料您的工作的先进的软件的电钮运算。

强大
证明的分光镜 ellipsometer 技术比其他技术产生你们俩厚度和索引肯定更高的。

灵活
与您的材料 - 电介质,半导体,有机物一起使用和更。

价格合理
功率的分光镜 ellipsometry 以合理的价格。

快速
数百波长在几秒钟 - 直接结果内同时收集了。

Last Update: 3. February 2012 16:17

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