気違い都市実験室 NanoF シリーズ Nanopositioner の集中の要素

NanoF シリーズは旅行の 100 か 200 ミクロンが付いている nanopositioner の集中の要素です。 PicoQ™の専有技術を利用する内部位置センサーは閉じたループ制御の下で絶対、反復可能な位置の測定および picometer の正確さを提供します。 NanoF シリーズは顕微鏡段階の Z 軸の動きに代わりを提供するか、または自動化された顕微鏡の熱拡張の補償を提供するのに使用することができます。 それはスタンドアロン項目としてまたはシステムを nanopositioning 他の気違い都市実験室と共に使用することができます。 NanoF シリーズ装置は絶対位置制御のための統合されたセンサーが付いているアルミニウムそして打殻薬莱から組み立てられます。 速い台紙のアダプターは顕微鏡に nanopositioner が回転なしでアダプターに締め金で止めることができるように直接通ります。 速い台紙のアダプターの交換可能な糸は NanoF シリーズがすべての顕微鏡で使用されるようにします。 速い台紙のアダプターの望ましい糸は各システムのためにそれが発注されるとき指定されます。 余分アダプターは別に発注することができます。

機能

  • コンパクトな対物レンズの集中の要素
  • 交換可能で、速い台紙のアダプター
  • 動きの 100 つの µm または 200 の µm の範囲
  • すべての顕微鏡と互換性がある
  • 閉じたループ制御

典型的なアプリケーション

  • 顕微鏡の集中の要素
  • 共焦点イメージ投射
  • 自動焦点
  • 嵐およびやしイメージ投射

Last Update: 3. February 2012 16:26

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