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Posted in | Nanoanalysis

PANalytical lança pacote Análise New Standardless em Pittcon 2009

Published on March 6, 2009 at 6:32 AM

Pittcon 2009 (8-13 de Março, Chicago, EUA) vai ver o lançamento do PANalytical 's pacote de análise de novos standardless, Omnian. Este último módulo em suite comprovada de software da companhia SuperQ é projetado para ser usado com o Axios fluorescência de raios X seqüencial espectrómetro (XRF).

Omnian resolve seus desafios analíticos

Omnian fornece a resposta ideal para a caracterização e análise de amostras desconhecidas, ou em situações onde os padrões de certificação que correspondem características específicas da amostra não estão disponíveis.

Omnian pode lidar com uma grande variedade de tipos de amostras, tais como sólidos, pó pressionado, grânulos fundidos, pós soltos e líquidos. O software é adaptável, dependendo da experiência do usuário ou o modo de operação desejado. Com seu poder de resolução de problemas que lida com desafios analíticos, incluindo a quantificação da amostra, a triagem e análise de falhas, bem como a comparação de diferentes materiais.

Omnian está definido para se tornar o novo marco nestas aplicações importantes. Ele é projetado para fornecer a quantificação rápida e confiável no modo "caixa preta" do padrão. No entanto, os dados coletados são abrangentes e podem ser revistos de forma mais ampla.

O sistema ajusta automaticamente a amostra e matriz de efeitos, bem como a espessura da amostra, volume e composição "Dark-Matrix '. Pode ser afinadas para maior precisão usando Caracterização da Amostra Adaptive (ASC).

Omnian é suportado por PANalytical rede mundial de especialistas de suporte e serviço. Para mais informações, visite www.panalytical.com / omnian

Last Update: 15. October 2011 02:26

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