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Lot-Erker Führt Berührungsfreies Optisches Auswerteprogramm Xi-100 von Ambios-Technologie ein

Published on June 15, 2009 at 8:11 AM

Das berührungsfreie Optische Interferometer Xi-100 von Ambios-Technologie schnell und misst genau die Topographie 3D von Oberflächen auf dem nmniveau. Es ist für den Forscher konzipiert, der interessiert ist, an, schnell zu erhalten, wiederholbar herrührt von ein Instrument, das nicht durch nicht benötigte Niveaus der Komplikation belastet wird. Schnell Bildflächen in der Schuppe von den Mikrons zu den mm und zu den einzigen Geräteeinstellungen sind Beispielstellung und -fokus.

Hauptmerkmale:

  • Schnell, zerstörungsfrei, 3 Maßmaße
  • Punkt- und Trieboperation
  • Hohe Auflösung, Genauigkeit und Wiederholbarkeit auf den glatten oder rauen Oberflächen
  • In Hohem Grade erschwinglich

Zu mehr Information gehen Sie bitte zu Auflösung oder bringen Sie Heide-Junge auf 01372 378822, E-Mail heath@lotoriel.co.uk in Kontakt

Last Update: 14. January 2012 03:26

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