Il Lotto-ORIEL Presenta il Profilatore Ottico Senza contatto Xi-100 dalla Tecnologia di Ambios
Published on June 15, 2009 at 8:11 AM
L'Interferometro Ottico Senza contatto Xi-100 dalla Tecnologia di Ambios rapidamente e misura esattamente la topografia 3D delle superfici al livello di nanometro. È progettato per il ricercatore che è interessato nell'ottenere data veloce e ripetibile da uno strumento che non è ostacolato dai livelli non necessari di complicazione. Rapido le zone d'immagine in disgaggio dai micron ai millimetri ed ai soli adeguamenti dello strumento sono posizione e fuoco del campione.
Funzionalità Principali:
- Veloce, non distruttivo, 3 misure dimensionali
- Operazione del tiro e del Punto
- Alta risoluzione, accuratezza e ripetibilità sulle superfici regolari o ruvide
- Altamente accessibile
Per più informazioni vada prego a http://www.lot-oriel.com/site/pages_uk_en/products/xi100/xi100.php o contatti i Giovani su 01372 378822, il email heath@lotoriel.co.uk della Brughiera