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Il Lotto-ORIEL Presenta il Profilatore Ottico Senza contatto Xi-100 dalla Tecnologia di Ambios

Published on June 15, 2009 at 8:11 AM

L'Interferometro Ottico Senza contatto Xi-100 dalla Tecnologia di Ambios rapidamente e misura esattamente la topografia 3D delle superfici al livello di nanometro. È progettato per il ricercatore che è interessato nell'ottenere data veloce e ripetibile da uno strumento che non è ostacolato dai livelli non necessari di complicazione. Rapido le zone d'immagine in disgaggio dai micron ai millimetri ed ai soli adeguamenti dello strumento sono posizione e fuoco del campione.

Funzionalità Principali:

  • Veloce, non distruttivo, 3 misure dimensionali
  • Operazione del tiro e del Punto
  • Alta risoluzione, accuratezza e ripetibilità sulle superfici regolari o ruvide
  • Altamente accessibile

Per più informazioni vada prego a http://www.lot-oriel.com/site/pages_uk_en/products/xi100/xi100.php o contatti i Giovani su 01372 378822, il email heath@lotoriel.co.uk della Brughiera

Last Update: 17. January 2012 00:11

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