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批次突壁窗介紹 Xi-100 從 Ambios 技術的沒有接觸的光學仿形銑床

Published on June 15, 2009 at 8:11 AM

從快速 Ambios 技術的 Xi-100 沒有接觸的光學干涉儀和準確地評定表面 3D 地勢在毫微米級別。 它為是對快速地獲得感興趣的研究員被設計,可重複建於沒有由複雜化的不需要的級別妨礙的儀器。 在縮放比例的迅速圖像區從微米到毫米和唯一的儀器調整是範例位置和重點。


  • 快速,非破壞性,三維的評定
  • 點和射擊運算
  • 高分辨率、準確性和反覆性在平穩或毛面
  • 高度價格合理

對於更多信息请請去 或請與在 01372 378822 的荒地年輕人,電子郵件 聯繫

Last Update: 24. January 2012 18:46

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