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Plataforma Aplicada da Análise de Defeito de SEMVision G4 Honrada com Concessão Bem Escolhida do Produto dos Editores Prestigiosos a Melhor Pelo Compartimento do SI

Published on July 15, 2009 at 7:57 PM

Aplicado Materiais, Inc. anunciaram hoje que sua plataforma Aplicada da Análise de Defeito de SEMVision™ G4 estêve honrada com Concessão Bem Escolhida do Produto dos Editores prestigiosos a Melhor pelo compartimento do International (SI) do Semicondutor. A combinação de vencimento de tecnologia inovativa e de desempenho produção-provado fez à plataforma de SEMVision G4 a ferramenta da revisão do defeito da escolha para 32nm projectar regras e além.

A tecnologia Inovativa e o desempenho produção-provado fizeram à plataforma Aplicada de SEMVision G4 a ferramenta da revisão do defeito da escolha para 32nm projectar regras e além. (Foto: Business Wire)

“Programa Bem Escolhido das concessões dos Produtos Dos Editores o Melhor reconhece produtos, materiais e os serviços que são provados no ambiente de fabricação,” disse Laura Peters, Redactor-chefe do International do Semicondutor. “No processo de avaliação, os editores do Si considere os produtos baseados no feedback dos clientes reais no campo e somente os mais altamente recomendados são honrados todos os anos.”

“Esta concessão reconhece impacto tremendo a tecnologia Aplicada de SEMVision teve na indústria do semicondutor,” disse St. Dennis, vice-presidente superior e director geral de Tom Grupo dos Sistemas do Silicone dos Materiais Aplicados'. “A qualidade excepcional da imagem Do sistema de SEMVision G4 e as capacidades avançadas da análise material são ferramentas poderosas para ajudar fabricantes de chips a compreender e abrandar as causas origem de defeitos da rendimento-matança.”

Os sistemas Aplicados de SEMVision da Revisão do Defeito são projectados para as aplicações as mais avançadas da revisão, capaz do redetection automático do defeito (ADR) e da classificação automática do defeito (ADC) de defeitos críticos. As características Chaves da tecnologia de SEMVision G4 são seus coluna nova do microscópio de elétron (SEM) da exploração e sistema aumentado da imagem lactente de SEM da multi-perspectiva que entregam a definição 2nm física avançada para a qualidade ímpar da imagem em uma taxa da revisão da marca de nível de um defeito-por-segunda.

A revisão automática aberta caminho do defeito de SEMVision sistema Aplicado em 1998, revolucionando os fabs da maneira detecta e analisa a informação do defeito. Por os dez anos passados, a tecnologia de SEMVision forneceu a possibilidade da capacidade à indústria, sobre os 700 sistemas instalados em locais de cliente no mundo inteiro. Esta é a terceira concessão do SI para tecnologia Aplicada de SEMVision, começando com o primeiro sistema de SEMVision em 2000 e continuando com o SEMVision G2 MENTIR em 2005.

Aplicado Materiais, Inc. (Nasdaq: AMAT) é o líder global em soluções de Nanomanufacturing Technology™ com uma carteira larga de produtos inovativos do equipamento, do serviço e de software para a fabricação de microplaquetas do semicondutor, de ecrãs planos, de pilhas fotovoltaicos solares, da eletrônica flexível e do vidro eficiente da energia. Em Materiais Aplicados, nós aplicamos a Tecnologia de Nanomanufacturing para melhorar os povos da maneira vivos.

Last Update: 13. January 2012 21:49

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