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产生在轴向颗粒大小分析的介绍的 Malvern 专家高剪粒化进程的

Published on April 7, 2010 at 9:11 PM

在处理逻辑分析方法和控制技术的预付款 2010年会议 (APACT 10; 2010年 4月 28-30,曼彻斯特,英国), Malvern 仪器处理系统专家 Jarvis Jeejing 将产生轴向颗粒大小分析的介绍高剪粒化进程的。 他将引入 velocimetry 微粒的技术的轴向颗粒大小评定,着重其应用对高剪粒化进程的控制和优化在工业制药内的。 在星期四 Jeejing 先生的介绍将构成一个会议的部分 4月 29日投入工艺过程分析的行业应用。 Malvern 也将参加关联商业陈列。

velocimetry 的微粒,举例证明在 Parsum 轴向微粒探测 (IPP70) 从 Malvern 仪器,是适用于在范围范围的评定的微粒 50 到 6000 微米的技术,移动在速度在 0.01 和 50 个 m/s. 之间。 这做它监控的进程理想例如粒化、喷雾干燥、流化床和颗粒大小减少。

粒化的重要性在配药制造中为其他属性是源远流长的,其中它广泛使用改进压片的混合流属性和一贯性,以及。 高剪 (或请弄湿) 粒化传送高处理量和密集,统一,无灰尘的粒子,但是其优化可以富挑战性。 连续监视提供一个重要的途径。 www.malvern.com/process

APACT 10 是为关于在工程和科学事宜的最近预付款的介绍和论述的一个开放论坛与处理逻辑分析方法和控制技术有关。 完全和主要报告人将描述 PAC 方法的制定和实施,复核可以达到的福利和报表新发展。 这个会议召开对所有感兴趣参与者,并且为院和实业家提供机会存在他们的知识和研究对消息灵通的多重学科的听众。 这个程序将包括贡献的演讲、海报介绍和供营商陈列。 这个会议是一个理想的论坛对于会集在 PAC 的网络连接和信息。 那些新对工艺过程分析或程序控制的意志福利从代表 APACT 会议的友好气氛。 www.apact.co.uk

Malvern 和 Malvern 仪器是 Malvern 有限公司仪器注册商标

Last Update: 12. January 2012 08:36

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