Neue Technik, zum von Kristallgrenzen-Abtrennungen Unter Verwendung WDS Zu Entdecken und Mengenmäßig Zu Bestimmen

Published on June 1, 2010 at 8:31 PM

Wissenschaftler an der Universität von Nantes (Frankreich) haben neuentwickelt eine neue Technik, zum von Kristallgrenzenabtrennungen unter Verwendung Wellenlänge der dispersiven Röntgenstrahlspektroskopie (WDS) zu entdecken und mengenmäßig zu bestimmen.

Die Instrumentbasis für die Entwicklung der neuen Technik ist das MERLIN®-Bereich-Emissions-Rasterelektronenmikroskop von Carl Zeiss, ausgerüstet mit einem Spektrometer Oxfords WDS. Das Experiment wurde am Laboratoire Génie DES Matériaux und Procédés Associés Polytech Nantes (LGMPA) durchgeführt.

Die Haupteigenschaft des MERLIN FE-SEM, das diese neue Technik aktiviert, ist der hohe Fühlerstrom, von Na bis 300. Im Experiment war es sogar möglich, die Anlage bei Na 400 zu benützen. Nur indem er zutrifft, kann solch ein hoher Fühlerstrom genügendes Signal aufgeregt sein. Wegen der doppelten Kondensorlinse der Spalte GEMINI® II innerhalb des MERLIN, wird der Strahldurchmesser auf das Extrem, mit dem Ergebnis der hohen Ortsauflösung der WDS-Analyse beschränkt.

Anwendungshintergrund

Zwischenflächen- Abtrennungen können zu eine dramatische Veränderung von Materialeigenschaften, z.B. Verlust in der Duktilität von des Nickels oder führen Kupferlegierungen des Eisens. Bis jetzt wird die Kennzeichnung von Oberflächenschichten im Allgemeinen mit Stangenbohrer-Elektron-Spektroskopie-oder Elektron-Fühler-MikroAnalyse aufbereitet. Beide Techniken haben einige Nachteile, z.B. den Bedarf an den Ultrahochvakuumbedingungen oder -beschränkungen in der Ortsauflösung. Diese Nachteile werden durch die Technik ausgeglichen, die am LGMPA, Nantes entwickelt wird.

Last Update: 12. January 2012 00:56

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