檢測和定量晶界離析的新穎的技術使用 WDS

Published on June 1, 2010 at 8:31 PM

大學的科學家南特 (法國) 使用波長分散性 X-射線分光學 (WDS),最近開發新穎的技術檢測和定量晶界離析。

為新的技術的發展的儀器基本類型是從卡爾蔡司的 MERLIN® 場致發射掃描電子顯微鏡,裝備牛津 WDS 分光儀。 這個實驗執行在 Laboratoire Génie des Matériaux 和 Procédés Associés Polytech 南特 (LGMPA)。

啟用此新穎的技術的默林 FE-SEM 的主要特性是高探測當前, 300 nA。 在這個實驗運行這個系統在 400 nA 是甚而可能的。 通過適用這樣高探測當前仅可能滿足的信號是興奮的。 由於 GEMINI® II 列的雙聚光透鏡在默林內的,射線直徑減到最小對這個極端,造成 WDS 分析的高空間分辨率。

應用背景

界面的離析可能導致有形資產的劇烈的變動,即在鐵,鎳或者銅合金的延展性的損失。 直到現在,頂面層的描述特性一般處理與俄歇電子能譜學或電子探針微量分析。 兩個技術有幾個缺點,即對超高真空條件或限制的需要在空間分辨率。 這些缺點由這個技術解決被開發在 LGMPA,南特。

Last Update: 25. January 2012 22:13

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