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Definição Aumentada na Baixa Região do quilovolt com Tecnologia Nova de Source do Elétron

Published on July 14, 2010 at 7:41 PM

Hoje, Carl Zeiss introduz EVO® HD, sua inovação mais atrasada no segmento de mercado convencional da Microscopia de Elétron da Exploração (C-SEM). Entregando muito mais de alta resolução nas baixas tensões de aceleração comparadas a SEM convencional actual, o EVO® HD introduz a Definição Alta à microscopia de elétron.

Escala da asa da borboleta (Pieris Brassicae) tomada no microscópio de elétron novo de EVO®HD na tensão de aceleração 5kV. A combinação do brilho alto inovador da fonte do EVO® HD e a sensibilidade baixo-quilovolt aumentada do detector permite mais introspecção em tais nano-estruturas biológicas não-condutoras. as Nano-Texturas associadas com as estruturas biológicas atraíram a atenção considerável não apenas no Zoologia, mas igualmente na Ciência Material, no bio-mimetismo e na nano-engenharia.

A base tecnologico para esta realização é a fonte nova de EVO® HD que caracteriza um brilho mais alto da fonte. Este brilho conduz a uma melhoria na definição baixo-quilovolt no tungstênio convencional relativo a SEMs. As propriedades melhoradas da fonte igualmente ajudam a aplicações analíticas com um aumento de 30% na definição em 30kV e em 1nA.

“Nós somos convencidos que esta é a inovação a mais significativa no mercado para SEM convencional na última década. As aplicações Numerosas em ambas as ciências da vida e análise de materiais tirarão proveito do desempenho aumentado”, explicam a Noiva de Allister Mc da divisão de Sistemas Nano da Tecnologia de Carl Zeiss em Cambridge.

Last Update: 12. January 2012 00:26

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