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光学显微学和 AFM 图象的无缝集成

Published on April 19, 2011 at 7:20 PM

JPK 仪器, nanoanalytic 手段世界领先的制造商研究的在生命科学和软的问题,提供唯一软件包与基本强制显微学图象一起做光学显微学图象显示无缝的执行。 此程序包称 DirectOverlay。

基本强制显微学 (AFM)是调查与毫微米缩放比例解决方法的各种各样不同的范例的一个强大的工具在生理情况下。 并且提供地形学评定,关于交往强制的信息和象黏附力和弹性的机械性能可能也获得。 AFM 的理想的综合化与一个光学设置的可能增加应用范围和为关联结构信息打开许多可能性与光学信息例如 functionalized 标记某些要素。

DirectOverlay 的功率的示例从 JPK 的: 当这个 3D 图象放大到高分辨率 700nm AFM 图象时,荧光图象显示三个单个被标记的脱氧核糖核酸分子。 (范例礼貌 CNRS 马赛) 博士 M. Modesti,

要达到光学和 AFM 的理想的组合在这个分子缩放比例,必须防止畸变。 这导致二个图象,例如光学和 AFM 图象,不完全躺在。 畸变的原因包括出现从光学系统的透镜和镜子的变型。 此非线性舒展,转动和抵销光学图象是存在接近光学设置的所有类型。

要生成两个技术无缝的重叠, JPK 开发一个最尖端的定标方法,称 DirectOverlay,使用 AFM 闭环扫描系统的准确性启用绝对角度和长度坐标一个真的显示。 定标程序自动地完成并且使用已知的位置,并且校准光学图象的悬臂的抵销到 AFM 协调。 生成理想的符合光学和 AFM 图象, 25 或更多点用于定标算法。 在每点,一个光学图象获取,并且这个悬臂式技巧的位置自动地被检测在每个光学图象,无需需要输入在悬臂式角度、形状或者放大。 这个算法然后执行一个非线性转换,并且,结果,光学图象为所有透镜缺点被更正,并且转换成线性化的 AFM 长度协调。 这提供理想的综合化光学,并且与子衍射的 AFM 数据限制精确度。

终于,这个被校准的光学图象调用到 JPK SPM 软件,因此 AFM 扫描地区可以在光学图象内被选择。 处理 “在 AFM 评定 (想象的光学图象”选择,映射和强制分光学) 导致更加高效的实验并且显著减少概览在 AFM 的图象扫描。

Last Update: 12. January 2012 18:04

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