El LOTE representa algunos de los nombres superiores en la instrumentación de la Metrología tal como KLA Tencor y Sistemas del Parque. Estamos ofreciendo actualmente las promociones siguientes por un período limitado.
Parque XE-100 - Investigación-Grado Premiado AFM con la Automatización de la Paso de progresión-y-Exploración
El LOTE puede ahora ofrecer un número limitado de a estrenar, XE-100 entregado fábrica AFMs en el 20% de precio de filete (incluye el entrenamiento de la garantía, de la salida, de la instalación y de utilizador de 12 meses). Éstos son modelos actuales del pliego de condiciones. Para ver un pliego de condiciones típico haga clic por favor aquí
El XE-100 es el buque insignia AFM del Parque con tipo reducido de la desviación y la Automatización de la Paso de progresión-y-Exploración que proporciona al funcionamiento final de AFM/SPM en metrología Sin contacto del nanoscale. Es un sistema mediados de-valorado para la ciencia material, los polímeros, la electroquímica y otras aplicaciones en nanoscience y la ingeniería. Puede adoptar una amplia gama de acoplamiento óptico con su acceso lateral abierto.
Profiler de la Superficie de la Aguja de KLA-Tencor D-100
Estamos ofreciendo el 20% del precio de filete (entrenamiento incluyendo de garantía, de la salida, de la instalación y de utilizador de 12 meses por un período limitado.
El rugosímetro de AlphaStep D-100 rápidamente y mide cuantitativo la 2.a topografía de superficies. Los sistemas de medición del rugosímetro de AlphaStep D-100 incluyen un rango de 800 micrones (1,2 milímetros opcional) Z, una resolución del sub-angstrom, una repetibilidad de la altura del paso de progresión de 6 angstromes, una muestra x-y manual de la theta que coloca el escenario, y muchas otras características. Para ver un pliego de condiciones típico haga clic por favor aquí
Profiler Superficial Óptico de KLA-Tencor MicroXAM-100
Estamos ofreciendo el 25% del precio de filete (entrenamiento incluyendo de garantía, de la salida, de la instalación y de utilizador de 12 meses por un período limitado.
El profiler superficial 3D de MicroXAM -100 puede medir campos visuales a partir de 100 X 100 micrones a 2,0 X 2,0 milímetros (de relacionado en el lente de objetivo usado). El interferómetro óptico de MicroXAM 100 rápidamente y mide exactamente la topografía 3D de superficies en el nivel del nanómetro con un radio de acción de la z-exploración de 250 micrones (o hasta 10 milímetros con la Z-Costura). Con las capacidades de costura de la nueva imagen 3D, las imágenes múltiples se pueden coser juntas para producir campos visuales extendidos. Para ver un pliego de condiciones típico haga clic por favor aquí
Para más información satisfaga hacen contacto con los Jóvenes en 01372 378822, email heath@lotoriel.co.uk del Brezo