Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D

Grote Overeenkomsten op de Instrumenten van de Metrologie van PARTIJ Erker

Published on June 9, 2011 at 1:46 AM

De PARTIJ vertegenwoordigt enkele hoogste namen in de instrumentatie van de Metrologie zoals KLA Tencor en de Systemen van het Park. Wij momenteel bieden de volgende bevorderingen voor een beperkte periode aan.

Park xe-100 - Met een prijs bekroonde onderzoek-Rang AFM met de Automatisering van stap-en-Aftasten

De PARTIJ kan nu een beperkt aantal van gloednieuw aanbieden, leverde de fabriek xe-100 AFMs bij 20% van catalogusprijs (omvat van de van de van de 12 maandgarantie, levering, installatie en gebruiker opleiding). Dit zijn huidige specificatiemodellen. Om een typische specificatie te bekijken gelieve te klikken hier

Xe-100 zijn het vlaggeschip AFM van het Park met verlaagd afwijkingstarief en de Automatisering van stap-en-Aftasten die de uiteindelijke prestaties AFM/SPM in de metrologie van het niet-Contact nanoscale verstrekt. Het is een medio-de prijs vastgesteld van systeem voor materialenwetenschap, polymeren, elektrochemie en andere toepassingen in nanoscience en techniek. Het kan een brede waaier van optische koppeling met zijn open zijtoegang goedkeuren.

KLA-Tencor D-100 de Oppervlakte Profiler van de Naald

Wij bieden 20% van de catalogusprijs aan (met inbegrip van van de van de van de 12 maandgarantie, levering, installatie en gebruiker opleiding voor een beperkte periode.

AlphaStep D-100 profilometer en meet snel kwantitatief de 2D topografie van oppervlakten. AlphaStep D-100 systemen van de profilometermeting omvat een 800 micron (facultatieve 1.2 millimeter) Z waaier, een sub-ångströmresolutie, een de hoogteherhaalbaarheid van de 6 ångströmstap, een hand plaatsend stadium van de x-y thetasteekproef, en veel andere eigenschappen. Om een typische specificatie te bekijken gelieve te klikken hier

KLA-Tencor microXAM-100 Optische Oppervlakte Profiler

Wij bieden 25% van de catalogusprijs aan (met inbegrip van van de van de van de 12 maandgarantie, levering, installatie en gebruiker opleiding voor een beperkte periode.

De 3D oppervlakte van MicroXAM -100 profiler kan gebieden van mening van 100 X 100 microns aan 2.0 X 2.0 millimeter (afhankelijk van de objectieve gebruikte lens) meten. MicroXAM 100 optische interferometer en meet snel nauwkeurig de 3D topografie van oppervlakten op het nanometerniveau met een z-aftasten waaier van 250 microns (of tot 10 mm met z-Stikt). Met de nieuwe 3D beeld het stikken mogelijkheden, kunnen de veelvoudige beelden worden gestikt samen om uitgebreide gebieden van mening te veroorzaken. Om een typische specificatie te bekijken gelieve te klikken hier

Voor verdere informatie tevreden om de Jongelui van de Dopheide te contacteren over 01372 378822, e-mail heath@lotoriel.co.uk

Last Update: 12. January 2012 16:53

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit