Microspectrometer para el Análisis No destructivo de Semiconductores

Published on July 3, 2011 at 9:08 PM

Las Tecnologías de CRAIC han desarrollado una nueva solución para la industria del semiconductor: la Herramienta de la Medición del Espesor Del Film De 20/20 XL. El 20/20 XL es un microspectrophotometer se diseña non-destructively analizar áreas microscópicas de muestras muy grandes. Este sistema ofrece la capacidad de medir el espesor de películas finas en la transmisión y la reflexión.

También ofrece la capacidad de medir los espectros de Raman de muestras microscópicas, junto con la microscopia Infrarroja Ultravioleta y Cercana del semiconductor y de otros tipos de muestras. Debido a su diseño flexible, que le da la capacidad de analizar las muestras más grandes, las aplicaciones son numerosas e incluyen la correspondencia del espesor del film fino de dispositivos grandes, el localización y determinar de los contaminantes, midiendo la deformación en silicio y mucho más. Con la capacidad las muestras microscópicas de analizar espectral y de la imagen o las áreas microscópicas en los dispositivos grandes, el microspectrophotometer de 20/20 XL son la herramienta punta del microanálisis para anufacturing recursos.

Las “Tecnologías de CRAIC han sido un innovador en el campo del microanálisis Ultravioleta-visible-NIR desde su fundación. Hemos ayudado a avance el campo del análisis de la microescala con la instrumentación, el software, la investigación y la enseñanza innovadores. El microspectrophotometer de 20/20 XL nació fuera de demanda de nuestros clientes industriales poder a las características microscópicas de dispositivos muy grandes por la pequeña medición del espesor del film de la mancha, la proyección de imagen microspectroscopy y espectral de Raman del ULTRAVIOLETA profundo Dr. Paul Martin, Presidente de los estados al IR cercano el” de las Tecnologías de CRAIC. “Como tal, hemos escuchado nuestros clientes y hemos creado el 20/20 XL, un sistema retrocedido por años de experiencia en el diseño, construcción y el usar de este tipo de instrumentación para el análisis espectroscópico y de imagen.”

El microspectrophotometer de 20/20 XL ofrece una unidad de medición avanzada del espesor del film, un espectrómetro de Raman, un microscopio Ultravioleta-visible-NIR sofisticado del rango, imagen digital de alta resolución y software potente, fácil de usar. Este instrumento flexible se diseña para asociar a los bastidores grandes que pueden acomodar muestras del gran escala. Puede detectar datos de las características microscópicas de muestras muy grandes por la absorción, la reflexión o aún la espectroscopia de la luminiscencia. Incluyendo imagen digital de alta resolución, el utilizador puede también utilizar el instrumento como microscopio ultravioleta o infrarrojo. Además, los módulos de la espectroscopia de CRAIC Apolo Raman pueden ser agregados así que el utilizador puede también detectar los pequeños espectros de Raman de la mancha. Mandos de la pantalla táctil, Software sofisticado, aperturas variables calibradas y otras innovaciones toda la punta a un nuevo nivel de sofisticación para el microanálisis. Con alta sensibilidad, diseño duradero, facilidad de empleo, proyección de imagen múltiple y las técnicas espectroscópicas, automatización y el soporte de las Tecnologías de CRAIC, el 20/20 XL está más que apenas una herramienta de la medición del control de calidad… él es la solución a sus retos analíticos.

Para más información sobre la Herramienta de la Medición del Espesor Del Film De 20/20 XL y Vision Perfecto para la Ciencia, visita http://www.microspectra.com/.

Last Update: 12. January 2012 11:02

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