Исследование Убежища Вводит Изменяемое Поле Module2 для MFP-3D AFM

Published on November 1, 2011 at 6:40 PM

Исследование Убежища, руководитель технологии в зонде скеннирования/атомной микроскопии усилия, вводит новое Изменяемое Поле Module2 (VFM2) для Микроскопов Усилия MFP-3D Атомных (AFM).

5 кадров показывая часть Перпендикулярных Средств Записывая (PMR) жёсткий диск degaussed с магнитным полем Tesla в-плоскости ~0,5 используя VFM2.

VFM2 идеально для исследователей которые хотят приложить магнитные поля к их атомным экспериментам по микроскопии усилия и прикладывает непрерывно регулируемые магнитные поля параллельные к образцу плоскому причаливающ одному Tesla с одним разрешением Гаусса. Модуль полезн для микроскопии магнитной силы (MFM), проводного AFM (C-AFM), и других применений где свойства образца зависел магнитного поля.

Легко атташеы VFM2 к MFP-3D AFMs и подсказки полюса характеристик регулируемые для оптимального выбора между максимумом требовали поля, размещения образца и градиентов поля минимума. Модуль использует уникально конструкцию включая магниты редкой земли для того чтобы произвести магнитное поле. Поддержание устоичивого поля не производит никакие жару, термальное смещение, или механически вибрацию. Интенсивность Поля ПО controllable. Интегрированное Gaussmeter обеспечивает количественное измерение прикладного магнитного поля.

Для экспериментов где совмещенное магнитное поле и высокое смещение напряжения тока подсказк-образца необходимы, как для изучения ferroelectric и пьезоэлектрических материалов, Высоковольтный Набор VFM2 можно легко прикрепиться к VFM2. Высоковольтный Набор позволяет применению смещений подсказки до ±220V.

Было Прокомментировано Роджер Proksch, Президент Исследования Убежища, «До введения VFM2, высокие измерения магнитного поля требовало осложненных superconducting или вод-охлаженных магнитов, ни тех чего в частности содружественн к измерениям AFM малошумной, высокой точности. Наша команда, во главе с Maarten Rutgers, делала неожиданное увеличение в прочности поля вместе с увеличенными точностью и легкием в использовании измерения. Это поистине крупный шаг вперед в окружающем AFM.»

Last Update: 12. January 2012 12:48

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit