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Técnica Nova Para Detectar Falhas em Estruturas Magnéticas da Nano-Escala

Published on April 6, 2012 at 2:48 AM

Por Cameron Chai

Uma equipe dos pesquisadores do National Institute of Standards and Technology (NIST), do Instituto de Tecnologia Real, e da Universidade de Maryland Nanocenter desenvolveu uma técnica nova para identificar falhas em estruturas magnéticas da nano-escala, mesmo quando são enterradas abaixo da superfície de um dispositivo electrónico multilayer.

Prendido abaixo da ponta magnética de um modilhão do microscale, as ondas de rotação podem ser usadas para medir non-destructively as propriedades de materiais e da busca magnéticos para defeitos do nanoscale, especialmente em sistemas magnéticos multilayer como um disco rígido típico, onde os defeitos poderiam ser enterrados abaixo da superfície. (Crédito: McMichael/NIST)

O método testado no Centro do NIST para a Tecnologia de Nanoscale (CNST) é baseado na pesquisa conduzida por cientistas na Universidade Estadual do Ohio. O conceito deve limitar e imagem as perturbação de oscilação de campo magnético chamadas como ondas de rotação em um filme fino. Estas ondas de rotação limitadas podem ser usadas como uma ferramenta para medir as propriedades materiais magnéticas sem causar dano e para detectar os defeitos do nanoscale, que podem ou para ter produzido falhas da memória.

Robert McMichael, um pesquisador no NIST, explicado que quando a magnetização de um material for batida por microondas, cria uma ondinha com as ondas de rotação porque a energia de microonda empurra as rotações, que empurram por sua vez outras rotações. As microondas são ajustadas a uma freqüência apenas além da escala onde a propagação das ondas de rotação ocorre, com exclusão do direito da área abaixo da ponta magnética da ponta de prova.

As Falhas no material perturbam as ondas de rotação limitadas para causar um efeito, que permita a caracterização dos defeitos em 100 escalas do nanômetro do comprimento. Um estudo Mais Adiantado tinha demonstrado este efeito nas rotações magnéticas, que foram orientadas verticalmente à superfície do filme magnético, assim limitando a definição porque as rotações individuais foram conectadas fortemente com outras rotações.

Neste trabalho, as rotações magnéticas não são acopladas e são arranjadas fortemente em um plano um com o otro. Este teste padrão assemelha-se não somente à estrutura da maioria dos dispositivos magnéticos mas igualmente permite-se mais perto a focalização e mais de alta resolução.

Source: http://www.nist.gov/

Last Update: 6. April 2012 03:27

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