Posted in | Microscopy

Lenseless 화상 진찰 - 현미경 검사법의 미래

Published on September 6, 2012 at 3:18 AM

G.P.의 토마스

로스앤젤레스에 있는 가주 대학에 최근 연구 연구 결과는 고해상 현미경 검사법의 진로이기 위하여 lenseless 화상 진찰을 표시합니다. 가주 대학에 렌즈 자유로운 계산 화상 진찰의 영역에서 수년에 걸쳐 한 중요한 어드밴스가 계속 있습니다.

특정 관심의 융통성, 힘 및 소형 식으로 전통적인 현미경을 대신하는 lenseless 자필 현미경은 입니다. 미래가 이 기술 및 잠재적인 응용을 위해 도전하는 에 칩 현미경 검사법의 이 모형을 위한 Aydogan Ozcan 및 동료, 제안 나오는 결과 및 하이라이트가 지도하는 새로운 협조적인 연구 결과.

연구원은 lenseless 에 칩 현미경이 해결책을 가진 광학적인 심상을 20 mm를 뼘으로 재는 전망에 대응하는 0.9 수 가늠구멍으로 이루어져 있는 가장 높은 이제까지 일으킬 수 있다는 것을 보여주었습니다2. 에 칩 lenseless 컴퓨터 화상 진찰의 가장 중요한 이득은 CCD와 CMOS 영상과 같은 디지털 센서의 새로운 소집의 소개 때문에 해결책의 정도에 있는 지속적인 개선이 있을 입니다. 이 감지기 기술에 있는 어드밴스는 디지탈 카메라의 제조자에 의해 초래된 증진의 결과 및 이동 전화입니다. 2개의 기업으로 사진기의 10억개 새로운 모듈에 매년마다 가깝게 생성해서, lenseless 에 칩 영상 공학은 이 동향에 안으로 현금으로 바꾸기 위하여 놓입니다. 기존 lenseless 에 칩 현미경 검사법 기술은 강력하 1개의 10억개에서 20억개 화소 해결책을 가진 칩에 심상 투명한 견본 할 수 있습니다. 연구원은 기업 동향이 견본의 시계와 해결책이 서로 관계를 가지지 않는 에 칩 lenseless 현미경 검사법의 발달로 이끌어 낼 것이라고 믿습니다.

근원: http://newsroom.ucla.edu

Last Update: 12. December 2013 23:15

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit