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Le NIST Avance la Caractérisation de Nanoscale des Matériaux Utilisant la Spectroscopie AFM-Basée

Published on October 30, 2012 at 8:48 AM

Les Instruments d'Anasys annonce un papier neuf écrit par M. Andrea Centrone et ses collègues au NIST publié récent dans Small*, une principale publication qui se concentre sur les mondes nanos et micro.

Schéma pour afficher le fonctionnement d'AFM-IR

L'équipe de M. Centrone a rendu compte des expériences qui ont soigneusement étudié la force du signal d'AFM-IR contre l'épaisseur d'échantillon. Les expériences ont prouvé que le signe d'AFM-IR augmente linéairement avec l'épaisseur pour des échantillons jusqu'à 1µm épais. Cette linéarité observée peut préparer le terrain pour l'analyse chimique quantitative au nanoscale.

AFM-IR a récent attiré l'intérêt grand parce qu'il active l'identification et la représentation chimiques avec la définition de nanoscale. En cet article, le NIST rend compte des échantillons nanopatterned de polymère de faisceau d'électrons qui ont été fabriqués directement sur des prismes de séléniure de zinc et employés pour évaluer expérimental la définition, la sensibilité et la linéarité transversales de signe d'AFM-IR. Les auteurs ont prouvé que la définition transversale d'AFM-IR pour la représentation chimique est comparable à la définition transversale obtenue en topographie d'AFM. Des Spectres et les plans de produit chimique ont été produits à partir des échantillons aussi légèrement que 40 nanomètre. Les observations fournissent également la confirmation expérimentale des prévisions théoriques sur AFM-IR précédemment développé par Prof. Alexandre Dazzi d'Univ de Paris-Orsay qui est également l'inventeur de la technique.

La technique brevetée d'AFM-IR est disponible commercialement comme plate-forme de nanoIR™ des Instruments d'Anasys, Santa Barbara, CA. Dans AFM-IR, un laser rapidement pulsé (IR) d'infrared est dirigé en circuit sur un échantillon mince qui absorbe la lumière d'IR et subit l'extension thermomécanique rapide. Une extrémité d'AFM en contact avec l'échantillon résonne en réponse à l'extension, et cette résonance est mesurée par l'AFM. « Nous sommes excités par ceci par le travail à côté de M. Centrone et ses collègues, » a dit Craig Prater, Officier En Chef de Technologie des Instruments d'Anasys. « Nous applaudissons la recherche et la participation du NIST dans la caractérisation de avancement de nanoscale des matériaux utilisant la spectroscopie AFM-basée. »

Last Update: 30. October 2012 10:47

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