Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

Horiba からのスライス、分光ライブラリ識別および分類の探検家は、 XRF 材料分析へ革命的な新しいアプローチです

Published on December 14, 2007 at 10:02 AM

HORIBA Jobin Yvon は、 XRF のコミュニティへスライスソフトウェアの排他的な提供者になる株式会社 xk との合意に達したことを発表するために喜びます。  スライス、分光ライブラリ識別および分類の探検家は、 X 線スペクトルをアーカイブし、問い合わせ、比較するように設計され材料分析に革命的な新しいアプローチを表します。

FBI の契約の下で時間を節約し、証拠の識別の正確さを改善し、高度のアーカイブのツールを開発しま、スペクトル作成することを、継ぎ目無くリンクされるべき画像およびテキストを許可します。  データベースを検索することはスペクトルが迅速かつ効率的に質問されるようにします。  それは事実上どの材料でも見つけることができる使用は薬剤、自動車の、エンジンの摩耗および半導体を含む企業の広い範囲の汚染物の分析に今、拡張されています法廷の実験室内の広く利用されたツールになり。

HORIBA Jobin Yvon XGT のマイクロXRF 検光子は材料の識別のためにこれらのフィールドを渡って、そしてスライス提供と組み合わせてアナリスト完全な解決使用されます。

Last Update: 17. January 2012 00:33

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit