Horiba Ellipsometers wordt Veelzijdiger

Published on June 25, 2008 at 5:22 AM

UVISEL+ RM van de Dunne Films van Horiba Jobin Yvon breidt het vermogen van UVISEL met een nieuwe onafhankelijke Module van de Reflectometrie uit (RM) die op de goniometer kan worden opgezet UVISEL. De lage kostenRM module is beschikbaar of als optie of als verbetering voor alle huidige modellen van Zichtbaar en NIR UVISEL Spectroscopische Ellipsometers als module eenvoudig met de lamp van het Xenon en monochromator van UVISEL via twee optische vezels wordt verbonden.

UVISEL Spectroscopische Ellipsometers van de Afdeling van de Dunne Film van Horiba Jobin Yvon.

RM staat de metingen van de Reflectiecoëfficiënt bij normale weerslag over de golflengtewaaier 210nm - 2100 NM met een 200 µm metingsvlek toe, en door de integratie van ellipsometry en reflectometrie laat UVISEL+ RM flexibele en nauwkeurige metingen van toe:

  • Dikte van enige en veelvoudige laagfilms die van 1Å tot 30 µm gaan,
  • Optische eigenschappen (n, k, α) van materialen,
  • Directe spectroscopische meting van steekproefreflectiecoëfficiënt
  • Nauwkeurige beschrijving van dunne filmstapels voor interfaces, ruwheid, niet-homogeen karakter…

UVISEL+ RM is eenvoudig te werken gebruikend het DeltaPsi2 de aanwinstensysteem en voordelen van het grote materialengegevensbestand en de krachtige analyseeigenschappen van de software. Voor moeilijke toepassingen is het mogelijk om zowel ellipsometry als reflectometriemeting voor de analyse van een steekproef te binden.

UVISEL+ RM is een flexibel spectroscopisch metrologieplatform dat voor photovoltaic, vertoning, optische deklagen en oppervlaktebehandelingentoepassingen ideaal is.

Last Update: 15. January 2012 00:06

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit