Horiba Ellipsometers 變得更加多才多藝

Published on June 25, 2008 at 5:22 AM

Horiba Jobin Yvon 薄膜的 UVISEL+ RM 擴大 UVISEL 的功能與在 UVISEL 測向計 (RM)可以被掛接的新的獨立反射計模塊的。 低成本 RM 模塊是可用的或者作為選項或作為可視和 NIR UVISEL 的所有當前設計的升級分光鏡 Ellipsometers 作為模塊被連接到 UVISEL 的氙氣燈和單色儀通過二光纖。

UVISEL 從 Horiba Jobin Yvon 薄膜分部的分光鏡 Ellipsometers。

RM 允許反射率評定在波長範圍 210nm 的正常入射 - 2100 毫微米與一個 200 µm 評定地點和通過 ellipsometry 和反射計的綜合化 UVISEL+ RM 啟用靈活和準確評定:

  • 和多個層的厚度攝製範圍從 1Å 到 30 µm,
  • 光學性能 (n, k, α) 材料,
  • 範例反射率的直接分光鏡評定
  • 薄膜棧的準確的說明界面的,坎坷,多相性…

UVISEL+ RM 是簡單運行使用 DeltaPsi2 購買系統和福利從這個軟件的大材料數據庫和強大的分析功能。 對於困難應用束縛對範例的分析的 ellipsometry 和反射計評定是可能的。

UVISEL+ RM 是對光致電壓是理想的一個靈活的分光鏡計量學平臺,顯示、光學塗層和表面處理應用。

Last Update: 23. January 2012 17:36

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