Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

Carl Zeiss SMT Βιτρίνες μια νέα κατηγορία του SEM σε εκθεσιακό Μικροσκοπίας

Published on August 5, 2008 at 11:24 AM

Στο Μικροσκοπίας και Μικροανάλυση Συνάντηση και Έκθεση που θα διεξαχθεί στο Αλμπικέρκη, Νέο Μεξικό, ο Carl Zeiss SMT εισάγει μια νέα κατηγορία του SEM: SIGMA. Η αυξανόμενη ζήτηση των πελατών για την ευκολία χρήσης και κορυφαία X-ray και αναλυτική γεωμετρία πήρε το κεντρικό στάδιο, όταν το προϊόν που αναπτύχθηκε.

Νέα κατηγορία του SEM με επίκεντρο το μοναδικό GEMINI τεχνολογία: SIGMA.

Το SIGMA, το οποίο διαθέτει τη μοναδική και δοκιμασμένη GEMINI ® τεχνολογία από την Carl Zeiss, παρέχει εξαιρετική απεικόνιση και αναλυτικά αποτελέσματα από ένα μικροσκόπιο εκπομπής πεδίου με την ικανότητα να χειριστεί όλα τα είδη υλικών. Ανάλυση υλικό σε υψηλή ανάλυση παρέχεται από την κορυφαία γεωμετρία ακτίνων Χ τόσο για την ενέργεια και το μήκος κύματος φασματοσκοπία διασποράς (EDS και WDS).

Το SIGMA μπορεί να χειριστεί τα δείγματα μέχρι 250 mm διάμετρο και 145 χιλιοστά ύψος. Επιπλέον, ο σχεδιασμός του προθαλάμου συνεπίπεδα παρέχει την ιδανική γεωμετρία για ταυτόχρονη EDS και ηλεκτρονίων Backscattered περίθλασης (EBSD).

GEMINI ® ως το κορυφαίο στην παγκόσμια αγορά σχεδιασμού των εκπομπών στον τομέα, προσφέρει απαράμιλλη ευκολία χρήσης, η υπέροχη χαμηλή τάση απεικόνισης και εξαιρετικά σταθερή ρεύματα καθετήρα για αναλυτικές εφαρμογές.

Last Update: 8. October 2011 07:18

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit