Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

碳设计创新碳核心高方面比例 (CCHAR) AFM 探测

碳设计创新的 (C|D|I) 碳核心高方面比例为与核心碳 nanotube 的基本强制 (AFM)显微学起始时间探查 (CCHAR) (CNT) 并且是然后进一步处理和稳定与给予专利的技术造成与最大长宽比、解决方法、想象寿命和稳定性的 CNT 探测。

CCHAR 高方面比例 CNT AFM 探测,为重要维数评定和想象高的 Z 结构设计在材料学、计量学和生命科学应用。 标准 CNT 探测长度是大约 1µm 整体与 < 500nm="" of="" exposed="" CNT="" tip="">

碳 Nanotube (CNT) 探测比传统硅探测可能提供更加稳健的有形资产。 CNT 探测不是易碎的,并且一样迅速地不受麻烦,象硅比 10X 更长的想象寿命探查允许极大。 有真的 multiwalled 碳 nanotubes,安全地 (MWCNTs)被挂接的 CCHAR 探测,完全平直和正常对想象表面。 C|D|我其探测的用途 MWCNTs 能保证探测是非常坚韧的。 C|D|我所有权进程安全地附有 CNT 悬臂并且增强基本附件保证 CNT 安全地被挂接。 C|D|我技术允许探测制造与 CNT 技巧和稳定性的所有硅悬臂的好处和熟悉程度的。

实际上稳健有形资产比对硅或无定形的碳峰值探测也允许 CNT 探测能承受 AFM 想象强制以一个更高的长度对宽度比例可能的。 C|D|I 的给予专利的处理技术提供准确的角度,并且造成 nanoengineered 重要维数的长度控制为高方面比例想象应用探查。

福利

  • 被稳定的,稳健 CNT 探测以最大化的长宽比
  • 与硅悬臂的便利的高分辨率 CNT 技巧
  • 启用重要维数沟槽或漏洞结构想象与高的 Z 维数差异的
  • 更长的寿命允许用户范例与同一探测比较没有解决方法损失
  • 减少的破损、穿戴和污秽
  • 准确的长度、直径和角度实现一致的探测对探测结果

功能

  • CNT 直径 <40nm with="" sharpened="" apex="">
  • 整体 CNT 长度: 1µm,显示 CNT 长度: <500nm>
  • 所有权安定涂层
  • 硅探查的想象 lifetime10X
  • 自定义长度、可用长宽比和的角度
  • 可用对 12KHz 和 70KHz 悬臂式 CCHAR 悬臂特性
  • 曲率半径 <10nm>
  • 长宽比 100:1
  • 角位移 < 2="">
  • 可用可变的弹簧的常数

Last Update: 11. January 2012 04:36

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment