碳设计创新碳核心高方面比例 (CCHAR) AFM 探测

碳设计创新碳核心高方面比例 (CCHAR) AFM 探测
碳设计创新的 (C|D|I) 碳核心高方面比例为与核心碳 nanotube 的基本强制 (AFM)显微学起始时间探查 (CCHAR) (CNT) 并且是然后进一步处理和稳定与给予专利的技术造成与最大长宽比、解决方法、想象寿命和稳定性的 CNT 探测。

CCHAR 高方面比例 CNT AFM 探测,为重要维数评定和想象高的 Z 结构设计在材料学、计量学和生命科学应用。 标准 CNT 探测长度是大约 1µm 整体与 < 500nm="" of="" exposed="" CNT="" tip="">

碳 Nanotube (CNT) 探测比传统硅探测可能提供更加稳健的有形资产。 CNT 探测不是易碎的,并且一样迅速地不受麻烦,象硅比 10X 更长的想象寿命探查允许极大。 有真的 multiwalled 碳 nanotubes,安全地 (MWCNTs)被挂接的 CCHAR 探测,完全平直和正常对想象表面。 C|D|我其探测的用途 MWCNTs 能保证探测是非常坚韧的。 C|D|我所有权进程安全地附有 CNT 悬臂并且增强基本附件保证 CNT 安全地被挂接。 C|D|我技术允许探测制造与 CNT 技巧和稳定性的所有硅悬臂的好处和熟悉程度的。

实际上稳健有形资产比对硅或无定形的碳峰值探测也允许 CNT 探测能承受 AFM 想象强制以一个更高的长度对宽度比例可能的。 C|D|I 的给予专利的处理技术提供准确的角度,并且造成 nanoengineered 重要维数的长度控制为高方面比例想象应用探查。

福利

  • 被稳定的,稳健 CNT 探测以最大化的长宽比
  • 与硅悬臂的便利的高分辨率 CNT 技巧
  • 启用重要维数沟槽或漏洞结构想象与高的 Z 维数差异的
  • 更长的寿命允许用户范例与同一探测比较没有解决方法损失
  • 减少的破损、穿戴和污秽
  • 准确的长度、直径和角度实现一致的探测对探测结果

功能

  • CNT 直径 <40nm with="" sharpened="" apex="">
  • 整体 CNT 长度: 1µm,显示 CNT 长度: <500nm>
  • 所有权安定涂层
  • 硅探查的想象 lifetime10X
  • 自定义长度、可用长宽比和的角度
  • 可用对 12KHz 和 70KHz 悬臂式 CCHAR 悬臂特性
  • 曲率半径 <10nm>
  • 长宽比 100:1
  • 角位移 < 2="">
  • 可用可变的弹簧的常数

Last Update: 11. January 2012 04:36

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