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JPK の器械の Nanotracker の光学ピンセットおよび粒子の能力別クラス編成制度

NanoTracker™ 2 は研究等級によって逆にされる光学顕微鏡に基づくおよび敏感な処理、力のために設計されている光学ピンセットのプラットホームおよび追跡の実験です。

NanoTracker™ 2 を使うと、ユーザーはナノメーターの精密および femtoNewton の解像度を使うとリアルタイムのサンプルを制御し、処理し、観察する機能の 30nm に複数からのトラック粒子 µm 引っ掛かり。

NanoTracker™の技術は粒子のセル相互作用の正確に限量化可能で、再生可能な測定を提供します。 システムは単一の分子の機械工についての精密な情報を提供し、また単一の分子の付着、伸縮性または剛さのような機械特性を定めるのに使用されるかもしれません。

主要特点

  • femto ニュートンの感度および副 nm 精密の 3D 力の測定
  • 最も正確な測定のための安定性が高く、低雑音のレベル
  • 同時蛍光性イメージ投射
  • 強力で、適用範囲が広い制御およびデータ解析のソフトウェア
  • 証明されるクラス 1 レーザー
  • 適用範囲が広い、単一分子から生体細胞まで及ぶアプリケーションのためのモジューラ設計

Last Update: 1. May 2013 05:45

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