O ½ do ¿ de Pointprobeï é uma ponta de prova versátil do AFM do silicone para a imagem lactente e ajustes muito de alta resolução a todo o SPMs comercial conhecido (Microscópios da Ponta De Prova da Exploração). Consiste em um modilhão do silicone do único cristal com ponta integrada do silicone do único cristal. O modilhão e a ponta são apoiados por um suporte do silicone do único cristal. A definição atômica Verdadeira foi conseguida por diversas instalações de investigação em UHV usando as pontas de prova NCH e NCL do Não-Contacto/TappingMode AFM.
| Tipo | Revestimento Reflexo | Especial | Constante de Força | Res. Freqüência |
| Modo de Contacto | CONT | Nenhum ou reflexo | n.a. | 0,2 N/m | 13 quilohertz |
| Modo de Contacto (Modilhão Curto) | CONTSC | Nenhum ou reflexo | n.a. | 0,2 N/m | 25 quilohertz |
| Modo de Contacto, Seiko ou Zeiss | ZEILR | Reflexo | n.a. | 1,6 N/m | 27 quilohertz |
Não-Contacto/modo de batida
(alta freqüência) | NCH | Nenhum ou reflexo | AR5, AR10, AR5T
SSS, PtIr5, DESCOLAMENTO, CDT | 42 N/m | 330 quilohertz |
| Não-Contacto/batida macia | NCST | Nenhum ou reflexo | n.a. | 7,4 N/m | 160 quilohertz |
Não-Contacto/modo de batida
(modilhão longo) | NCL | Nenhum ou reflexo | SSS, AR5, DESCOLAMENTO, CDT | 48 N/m | 190 quilohertz |
Não-Contacto/modo de batida
(Modo do não-contacto de Seiko) | SEIHR | Reflexo | SSS | 15 N/m | 130 quilohertz |
| Modo da modulação da Força | FM | Nenhum ou reflexo | DESCOLAMENTO, CDT | 2,8 N/m | 75 quilohertz |
| Microscopia da força Electrostática | EFM | n.a. | n.a. | 2,8 N/m | 75 quilohertz |
Microscopia da força Magnética
Magnético Duro (tipside) | MFMR | Reflexo | n.a. | 2,8 N/m | 75 quilohertz |
Microscopia da força Magnética
Magnético Macio (tipside) | S-MFMR | Reflexo | n.a. | 2,8 N/m | 75 quilohertz |
Todos Os dados são sujeitos mudar sem aviso prévio.
Todos Os dados são valores típicos, porque as especificações garantidas consideram descrição detalhada do tipo da ponta de prova.
Além, as pontas de prova especiais do AFM do silicone podem ser projetadas e manufacturados em cima do pedido do cliente.
SSS - > Ponta de SuperSharpSilicon
AR5 - > Altamente Ponta do Prolongamento (5:1)
AR10 - > Prolongamento de Heigh (10:1)
AR5T - > Ponta Alta Compensada Inclinação do Prolongamento (5:1)
DESCOLAMENTO - > Ponta Revestida Diamante
CDT - > Diamante Condutor Ponta Revestida
PtIr5 - > Revestimento do Irídio 5 da Platina
Reflexo - > Revestimento De Alumínio
Geral
- Ponta de prova de SPM para a imagem lactente muito de alta resolução
- Ajustes a todo o SPMs comercial conhecido
- Projecto de Mnolithic do suporte, do modilhão e da ponta
- A Ponta está apontando <100> no sentido
- O Modilhão e a ponta são apoiados por um suporte do silicone do único cristal
Características Materiais
- Silicone do cristal Altamente lubrificado, único
- A condutibilidade Alta do silicone lubrificado evita cobrar electrostático
- Resistively é tão baixo quanto 0.01-0.025 Ohm*cm.
- Nenhuns esforço intrínseco e modilhões absolutamente rectos
- Nenhuma dobra do modilhão mudando temperaturas
- Silicone Quimicamente inerte para a aplicação nos líquidos ou em pilhas electroquímicas
Modilhão
- Secção transversal Trapezoidalmente do modilhão
- Lado Um Pouco largo do detector para o ajuste fácil
- A largura Pequena no lado de ponta reduz os danos
Suporte de Â
- O Modilhão é fixado a um suporte do silicone
- As Dimensões do suporte são muito reprodutíveis
- Substituição da ponta de prova sem reajuste principal
- Os cantos Gravados do suporte evitam o contacto entre o suporte e a amostra
Ponta
- A Ponta é dada forma como uma pirâmide baseada polígono e ficada situada no vertebrado do modilhão
- Ângulos Macroscópicos do metade-cone
- é o ½ do ¿ 20ï ao ½ do ¿ 25ï considerado ao longo da linha central do modilhão
- é o ½ do ¿ 25ï ao ½ do ¿ 30ï considerado do lado
- afile a virtualmente zero no vertebrado da ponta - Os raios da Ponta são tipicamente melhores de 10 nanômetro
- A altura de Ponta é o ½ m do ¿ do ï 10-15
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