從應用的 NanoStructures 的平面的技巧 AFM 探測

從應用的 NanoStructures 的平面的技巧 AFM 探測
應用的 NanoStructures』 FT 產品是有平台面的圓柱形過帳。 可以更改這個直徑和高度符合這種應用。 過帳可能也合併到所有懸臂式設計裡。 平台面可能用掀動報酬角度也做。 探測可以用於被分類的可變的應用或用金屬塗為電子評定。

Last Update: 3. February 2012 16:18

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