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卡爾蔡司推出新開發的更正天秤座200透射電子顯微鏡

Published on August 19, 2009 at 7:46 PM

卡爾蔡司 ,一個全球領先的電子和離子束成像和分析解決方案提供商,今天提出糾正天秤座200透射電子顯微鏡(TEM)新開發的線路。

像差YAG晶體接口高分辨率成像,在200千伏。 [禮貌卡塔琳娜哈特曼研究中心Geoscienes,波茨坦,德國 GFZ的。]

天秤座200 CS系統是基於對能源的200KV天秤座與物鏡的球面像差校正透射電子顯微鏡過濾器版本。使用此校正,低於 0.7埃的圖像分辨率可以達到。許多應用將受益於這方面的發展,如接口成像半導體太陽能電池,晶界或鋼鐵合金或由核輻射引起的屏蔽材料的損害。在所有這些應用領域的材料在原子尺度控制的基本物理或化學過程的深入理解是必要的,並保證設備的功能。在CS校正的另一個優點是能夠減少的加速電壓下降到80KV,而且還能達到低於埃決議。束損害,因此可以減少和敏感材料,如碳納米管,可以分析。

天秤座200冷凝器系統校正幹是用於成像的分辨率遠低於一埃和極端高分辨率的樣本的化學分析的掃描模式,特別是由電子能量損失譜(EELS)。糾正冷凝器允許低於埃探頭尺寸最小化,並在同一時間增加強度。此外,獨特的單色減少向下蔓延至0.15 eV的能量。在材料科學的基礎研究(如納米粒子的化學分析),特別是將有利於從產生的能量分辨率,否則只能達到同步環。

“我們已經開始安裝幾個系統,客戶網站在全球領先的研究設施。這裡為 0.66埃分辨率可以證明。客戶的反饋是非常積極的,“解釋托馬斯阿爾布雷希特,卡爾蔡司SMT的納米技術系統部產品管理總監。他說:“我們確實有很多像清脆撒在波恩舉行的歐洲先進的研究和研究中心系統客戶的特殊裝置與糾正傳輸電子顯微鏡的經驗。現在我們正在使用這方面的經驗,精湛的技術廣泛地提供這種市場。這一戰略是與我們的使命線“最大信息最大的洞察力。”

海德堡公司的老總有限責任公司,電子光學校正和卡爾蔡司的長期合作夥伴的專家校正器的研製和生產。

Last Update: 3. October 2011 23:51

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