Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

Carl Zeiss קיבלה רשיון מ קליפורניה בסן פרנסיסקו על מסחור "superresolution"

Published on October 17, 2009 at 8:14 PM

Carl Zeiss MicroImaging בע"מ קיבלה רשיון מאוניברסיטת קליפורניה עבור ומסחור של "superresolution", טכניקה מיקרוסקופיה מציע רזולוציה גבוהה במיוחד.

תצלום של חרוט צמיחה עצבית עם מיקרוסקופיה widefield (משמאל) ו-SR-SIM, מכתים עבור טובולין (אדום) ו-F אקטין (ירוק). דגימה: מ פריץ ומ Bastmeyer, אוניברסיטת קרלסרוהה (TH), גרמניה.

הטכניקה המכונה מיקרוסקופית תאורה מובנית (SIM) פותחה על ידי מדענים מאטס GL גוסטפסון, ג'ון וו Sedat ודוד א Agard באוניברסיטת סן פרנסיסקו (UCSF). הטכנולוגיה מתגבר על מגבלה עקיפה קלאסית להחלטה מיקרוסקופי על ידי שילוב של דפוס תאורה מיוחדת עם ניתוח המדינה-of-the-art תמונה חישובית. בהשוואה מיקרוסקופ קונבנציונלי, וכתוצאה מכך יש תמונות superresolution עד להכפיל את ההחלטה בכל שלושת הכיוונים המרחביים.

ההסכם מעניק Carl Zeiss את הזכות לשלב את טכניקת ה-SIM לתוך מערכות מיקרוסקופ שלה. עם מערכת ELYRA S.1, טכנולוגיית ה-SIM supperresolution יהיה זמין מיקרוסקופים סטנדרטיים בפעם הראשונה.

עם מערכת ELYRA PS.1 שלה, Carl Zeiss מציעה את השילוב של ה-SIM עם PAL-M טכנולוגיה, טכניקה superresolution השני (מיקרוסקופית לוקליזציה Photoactivated), במערכת אחת בפעם הראשונה מאוד. זה מרחיב באופן משמעותי את אפשרויות הניסוי של מיקרוסקופ אור מודרני, פתיחת אופקים חדשים בביולוגיה של התא מחקר נוירולוגי בפרט.

פורסם ב 17 אוקטובר 2009

Last Update: 11. October 2011 17:41

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit