Carl Zeiss Utfører Initial Installasjoner av Platform Shuttle + Finn

Published on November 24, 2009 at 6:03 PM

Sammen med flere pilotkunder, Carl Zeiss har startet applikasjonsutvikling for correlative mikroskopi i materialer analyse og utførte den første installasjonene på plattformen Shuttle + Finn. Fokus for oppmerksomheten er analysen av strukturer (f.eks polert seksjoner), brudd, og partikler. Den sømløse samspillet mellom lys og elektronmikroskop leverer tid og kostnader fordeler for alle disse programmene. I mange tilfeller de planlagte undersøkelsene er kun mulig i det hele tatt gjennom et grensesnitt for correlative mikroskopi.

Forskere ved ZHAW Institutt for materialteknologi og prosessteknikk i Winterthur, Sveits, for eksempel har som oppgave å beskrive så presist som mulig "ausferritic" strukturen i en bainitic spheroidal grafitt støpejern og med analysere utfellinger og materiale inneslutninger. Forsker Christof Scherrer forklarer: "Spesielt med store polerte prøver med strukturelle komponenter i mikrometer området (høy forstørrelse), er correlative mikroskopi den eneste måten å flytte de samme stedene uten tvil." På grunn av dens spesielle egenskaper som strekkstyrke og slitestyrke (hardhet), er dette materialet som brukes for tannhjul og deler av forbrenningsmotorer, for eksempel.

Presentert for første gang på Mikroskopi konferansen i Graz, Østerrike, i begynnelsen av september, Shuttle & Finn grensesnitt for correlative mikroskopi i materialer analyse er en felles utvikling av lysmikroskopi, elektronmikroskopi og Central Research divisjoner av Carl Zeiss. "Denne utviklingen ble svært godt mottatt i Graz, og genererte mange nyttige forslag som nå er gjennomført," sier prosjektleder Martin Edelmann.

Shuttle & Finn er en lett-å-bruke grensesnitt for overføring av prøver og bilder mellom et lett og et elektron mikroskop. Den forbinder oppreist og invertert lys mikroskoper av typen STEREO Discovery, Axio Imager og Axio Observer med en motorisert scene med alle gjeldende ZEISS scanning elektronmikroskop så vel som med ZEISS Crossbeam arbeidsstasjoner (en kombi-nasjon av scanning elektronmikroskop og en fokusert ion stråle for material prosessering). Hovedoppgaven til grensesnittet er å relocalize med høy presisjon i elektronmikroskop regionene av interesse merket i lysmikroskop (og vice versa). Det er også mulig å overlappe bildene fra de to forskjellige systemene.

Parallelt med den første vellykkede pilot installasjoner, vil Shuttle & Finn også være kommersielt tilgjengelig.

Last Update: 9. October 2011 15:39

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit