Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam

Nya System för MaterialForskning och Kvalitets- Kontroll

Published on May 3, 2010 at 7:41 PM

På CONTROL 2010 som ska rymms i Stuttgart från Maj 4-7, introducerar 2010, Carl ska Zeiss, dess nytt, och bevisade systemlösningar för material forskar, kvalitets- kontroll och rutinmässiga applikationer.

Carl Zeiss den Industriella MetrologyGruppen ska närvarande kickprecision som mäter system. Besökarna till utställningen förväntar skräddarsydda processaa lösningar, e.g för leverantörer och producenter i den auto branschen. mer Ytterligare nya maskinvaru- och programvaruprodukter möjliggör betydliga förbättringar, i att mäta kapacitet. Du kan finna specificerar om innovationerna av denna affärsgrupp på www.zeiss.de/imt.

Ska showlösningarna för Microscopy Gruppen för undersökningen av stort tar prov, liksom sol- celler, rån eller lägenhetpanelskärmar, genom att använda kontrastera tekniker. Ny produkt ska framläggas också för bruk i metallography, kontrolluppgifter i produktion och för polarizationmicroscopy. Den Nya Leda-baserade tillbehören är tillgänglig för stereomicroscopes.

För arg-system microscopy ska en plattform för motsvarande microscopy i materialanalys framläggas som skapar en anknyta mellan ett mikroskop för ljus och scanningelektron.

Du kan finna specificerad information om de mikroskopsystemen och lösningarna på www.zeiss.de/control-pr.

Last Update: 26. January 2012 02:30

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit