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研究员引入困难 X-射线角度解决的光射分光学 (HARPES)

Published on August 29, 2011 at 4:03 AM

卡梅伦柴

劳伦斯伯克利国家实验室的 (伯克利实验室) 研究员美国能源部 (DOE)开发了称困难 X-射线角度解决的光射分光学的新颖的 X-射线技术 (HARPES)。

亚历山大灰色和查尔斯 Fadley, DOE/Lawrence 伯克利国家实验室

查尔斯 Fadley,导致 HARPES 发展的物理学家,阐明, HARPES 可以用于调查所有材料批量电子结构,与污秽或表面回应的少量影响。 此技术可能学习是无所不在 nanoscale 设备并且对在电子唯一内存结构的微小的逻辑元件是重要在 spintronics 的隐藏的界面和层,以及在设备的非常有效率的能量转换例如光电池,他补充说。

研究员报告了 HARPES 技术的成功的演示在题为的文件的,与困难 X-射线角度解决的光射的 ` 探通的批量电子结构’,在本质材料日记帐上。

亚历山大灰色、一个子公司有伯克利实验室的材料学分部的和 Fadley 的加州大学的成员迪维斯研究小组,阐明,关键字的学习批量电子结构 是拥有高光子能源的 X-射线散发光电子从深深在一种固体物料的表面下困难 X-射线的利用率。 高能光子传达高动能给散发的光电子,做他们穿过在固体物料里面的更长的距离,反之允许这个分析程序检测从批量项目货签得到的更多这个信号,他说。

对 HARPES 技术的功能的演示,研究员使用一高强度 undulator beamline 在位于兵库的 SPring8 同步辐射设备,日本。 材料学日本国家学院是这个设备的运算符。 在这个研究期间, HARPES 技术允许研究员学习至 60 个 Å 的深度到大多数砷化镓和钨单晶。 研究员使用一台复杂的电子分光仪评定可能导致困难 X-射线严格的射线的角度和能源以及第三代光源。

来源: http://www.lbl.gov

Last Update: 11. January 2012 05:52

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