STMicroelectronics Produceert Wafeltje van de Halfgeleider van de Wereld het Eerste Gebruikend Technologie EMWS

Published on December 16, 2011 at 1:06 AM

Door Cameron Chai

STMicroelectronics heeft verklaard dat het met succes eerste-van-zijn-vriendelijk halfgeleiderwafeltje heeft geproduceerd, wiens volledig werden getest verstoken van contactsondes dobbelen.

STMicroelectronics Produceert Wafeltje van de Halfgeleider van de Wereld het Eerste Gebruikend Technologie EMWS

STMicroelectronics' fijnde testende technologie ver toestaat het testen van een op wafeltje-gebaseerde spaander die zoals RFID ICs elektromagnetische golven gebruikt als enige aansluting aan de kringsseries op het wafeltje, dat verscheidene voordelen aanbiedt, met inbegrip van lagere productkosten, kortere testende tijden en hogere opbrengsten. Voorts laat deze methode zonder contact het testen van de kringen van RF in de omstandigheden vergelijkbaar met voorwaarden van echte toepassingen toe.

De nieuwe elektromagnetische technologie van de wafeltje (EMWS)soort is een resultaat van de UHFAntenne van de MARKERING die magnetisch aan Geïntegreerde Schakeling (UTAMCIC) wordt Gekoppeld, een gezamenlijk onderzoek en een ontwikkelingsproject van STMicroelectronics en de Universiteit van Catanië.

De technologie EMWS is een vordering van het elektrowafeltje sorteren, het definitieve stadium van de wafeltjeproductie voorafgaand aan het assembleren en het testen van de gebeëindigde verpakte producten. In dit stadium van de productiecyclus, bestaat het verwerkte wafeltje uit een identieke kringsserie gesynchroniseerd matrijs. De uiterst kleine sondes van een sondekaart met betrekking tot worden de Automatische Apparatuur van de Test (ATE) gemaakt om de teststootkussens over de matrijs te raken door de kaart over elke matrijs te bewegen. AT test dan elke matrijs voor zijn functionaliteit, die de verwerping van niet-functionele matrijs voorafgaand aan zijn het assembleren en verpakking toestaat.

In de technologie EMWS, dobbelt het individu bestaat uit een microscopische antenne en AT verstrekt macht en correspondeert door elektromagnetische golven met dobbelen. Deze methode vermindert de telling van teststootkussens over de matrijs, resulterend in de vermindering van matrijzengrootte. Deze technologie kan testen volledig het zonder contact van low-power kringen uitvoeren, die beurtelings de schade van teststootkussens elimineert en de opbrengst verbetert. Voorts kan de tijd van de testcyclus beduidend dankzij de capaciteit worden verminderd om hoog testend parallellisme in de wijze zonder contact te bereiken.

Bron: http://www.st.com

Last Update: 11. January 2012 04:16

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit