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L'Étude de NIST Prouve la Stabilité Thermique des Films Nanomètre-Épais pour l'Électronique Organique

Published on April 19, 2012 at 3:25 AM

Par Cameron Chai

Une équipe de recherche du National Institute of Standards and Technology (NIST) a aidé une équipe de recherche internationale à vérifier la stabilité d'une membrane ultra-mince utilisant la spectroscopie de fin-structure d'absorption de Rayon X de proche-arête (NEXAFS).

La membrane ultra-mince développée par l'équipe de recherche internationale peut être utilisée comme élément clé pour une classe neuve de l'électronique organique flexible et stérilisable pour l'usage dans les applications médicales. L'équipe est dirigée par des scientifiques de l'Université de Tokyo, avec des membres l'Université de Princeton, Université d'Hiroshima, l'Agence de la Science et Technologie du Japon, le Max Planck Institute pour la Recherche Semi-conductrice et du Nippon Kayaku, une compagnie Tokyo-Basée.

L'équipe de recherche internationale a développé un matériau de grille novateur qui active la stérilisation à hautes températures des transistors organiques, de ce fait les rendant adaptés pour des applications médicales telles que les stimulateurs et le dispositif implantable mous. Ce matériau de grille s'assemble dans un à une seule couche ultra-mince des molécules linéaires fortement bourrées qui se réunissent à un sous petit angle à la surface. L'équipe a avisé que l'épaisseur de cette (SAM) couche unitaire auto-assemblée peut être en baisse à 2 nanomètre.

Des mesures Structurelles du SAM ont été exécutées à la ligne à énergie réduite de faisceau de rayons X de NIST située à la Source Lumineuse De Synchrotron National à New York. Échantillons du film ultra-mince d'antérieurement et après le traitement thermique ont été testés sur le beamline de NIST employant la technique de NEXAFS pour mesurer la stabilité thermique et l'orientation moléculaire du film.

La technique de NEXAFS est capable de trouver les liaisons chimiques sur la surface et à l'intérieur de l'échantillon. Par exemple, elle peut afficher la disparité entre une obligation unique de carbone et une double obligation de carbone dans une molécule. Les mesures de NEXAFS prouvées que les films ultra-minces de SAM pouvaient mettre à jour leur intégrité et stabilité même aux températures au-dessus de 150°C.

Source : http://www.nist.gov

Last Update: 19. April 2012 04:42

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