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AFM-IR によって可能になる批判的に必要な化学度量衡学

Published on October 16, 2012 at 12:08 PM

Anasys の器械は工学の部イリノイ大学との共同研究でナノテクノロジーベースの材料の識別が nano 製造業のための批判的に必要な化学度量衡学をどこに可能にするか報告します。

ポリマー nanostructures を調査するために AFM-IR を説明する設計図

ナノテクノロジー時代の主達成の 1 つは多重材料から形作られる nanostructures を製造できる製造技術の開発です。 複合材料のそのようなナノメータースケールの統合は電子デバイス、太陽電池および医学の診断の革新を可能にしました。

nano 製造業に重要な進歩の間、大いに多重統合された材料から作られる nanostructures の度量衡学により少ない進歩がずっとあります。 アーバナ平原イリノイ大学の研究者は Anasys Instruments Inc. 今最先端の nano 製造業をサポートできる新しい診察道具を報告し。

「私達は原子ポリマー nanostructures を特徴付けるのに力の顕微鏡ベースの赤外線分光学 (AFM-IR) を使用し、統合されたポリマー nanostructures のシステム」、アーバナ平原イリノイ大学で機械科学の部門の工学至福教授のウィリアム王、大学および工学を言いました。 「この研究に、私達は化学的に 100 ずっと nm 小さいポリマーラインを分析できます。 私達はまた AFM-IR の技術によって得られるように赤外線吸収スペクトルを使用してはっきり異なった nanopatterned ポリマーを区別してもいいです」。

AFM-IR では、急速に脈打った赤外線 (IR)レーザーは IR ライトを吸収し、急速な加工熱の拡張を経る薄いサンプルに指示されます。 ポリマー nanostructure と接触する AFM の先端は拡張に応じて共鳴し、この共鳴は AFM によって測定されます。 (次設計図を見て下さい)。

「nanotechnologists が統合された nanostructures の製造業に長く興味を起こさせられる間、ナノメーターのスケールで物質的な構成を識別できるツールの欠乏によって限定されました。"" はクレイグ Prater、調査の共著者を言い、 Anasys Instruments Inc. の責任者の技術の将校は 「AFM-IR の技術提供します同時に形態をマップし、 nanoscale で化学分析を行うために一義的な機能を」。

ペーパーはタイトルを付けられます、 「先端ベースの Nanofabrication によって製造される異質ポリマー Nanostructures のナノメータースケール赤外線分光学」。の 著者はアーバナ平原イリノイ大学のジョナサンのフェルトそしてウィリアム王およびケビン Kjoller、ミハエル Lo、および Anasys Instruments Inc. のクレイグ Prater です。

研究は Nano ACS で今月出版されました。 それは DOI でオンラインで手続きできます: 10.1021/nn302620f. 研究は科学研究の米国国防総省高等研究計画局、空軍オフィス、およびエネルギー省によって後援されました。

詳細については、 wpk@illinois.edu で電子メールによって教授王、 (217) 244-3864 にまたは連絡して下さい。

Last Update: 16. October 2012 12:34

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