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使用基於 AFM 的分光學, NIST 提前材料的 Nanoscale 描述特性

Published on October 30, 2012 at 8:48 AM

Anasys 儀器宣佈安德里亞 Centrone 和他的同事博士編寫的新的文件在 Small* 最近發布的 NIST,著重納諾和微世界的主導的發行。

顯示 AFM-IR 的運算的概要

Centrone 博士的小組報告關於認真學習 AFM-IR 信號強度與範例厚度的實驗。 實驗向顯示 AFM-IR 信號線性地增加與厚度為範例至 1µm 厚實。 此被觀察的線性可能鋪平道路定量化學分析的在 nanoscale。

AFM-IR 最近吸引了巨大利息因為它啟用化工確定和想像與 nanoscale 解決方法。 在本文, NIST 報告關於直接地在鋅硒化物棱鏡被製造并且用於實驗評估 AFM-IR 信號側向解決方法、區分和線性的電子束 nanopatterned 聚合物範例。 作者向顯示化工想像的 AFM-IR 側向解決方法與在 AFM 地勢裡獲得的這個側向解決方法是可比較的。 光譜和化學製品映射由範例一樣稀薄被生產了像 40 毫微米。 觀察在巴黎Orsay 的 Univ 的亞歷山大 Dazzi 教授以前開發的 AFM-IR 也提供理論上的預測的實驗確認也是這個技術的發明者。

給予專利的 AFM-IR 技術商業上是可用的作為從 Anasys 儀器的 nanoIR™平臺,聖芭卜拉, CA。 在 AFM-IR,迅速地搏動的紅外 (IR)激光處理在吸收紅外線光并且進行迅速熱機的擴展的一個稀薄的範例。 與這個範例聯繫的一個 AFM 技巧共鳴以回應擴展,并且此共鳴由 AFM 評定。 「我們由此激發通過工作在 Centrone 博士旁邊,并且他的同事」,首席技術軍官說克雷格 Prater, Anasys 儀器的。 「我們讚許 NIST 的研究和介入在材料的提前的 nanoscale 描述特性使用基於 AFM 的分光學」。

Last Update: 30. October 2012 10:46

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