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HORIBA Jobin Yvon からの自動 SE は 2008 年の IC の企業新しいシステム賞を獲得します

Published on October 10, 2008 at 11:24 PM

HORIBA Jobin Yvon は 2008 年の IC の企業新しいシステム賞の勝者として一義的な自動車 SE を発表するために喜びます。

Horiba Jobin Yvon からの AutoSE。

IC の企業賞は半導体工業が企業を機能する製品および方法を判断するようにする認識されたプラットホームです。

新しい自動車 SE は薄層およびマルチ層の厚さそして光学定数を定めるための唯一の簡単な、統合された分光 ellipsometer の解決です。

この新しい薄膜の測定のツールは薄膜の品質管理の条件を達成するように設計されていました。 それは完全なオートメーション (マップするローディング、アラインメント) を提供しましたり、 25x60 µm および一義的な統合された視野システムに 8 つの点サイズの選択を自動化しました。 それは新しい材料を特徴付けるために使用できる高度工学およびサービスモードの定期的な操作のための押しボタンの薄膜の分析を、可能にする直観的な自動柔らかいソフトウェアによって制御されます。

「私達は正確な薄膜の品質管理を非常に迅速かつ簡単に提供するので自動 SE が分光 ellipsometry のための主要な分岐点であることを信じます。 MyAutoView の視野システムの一義的なイメージ投射機能は測定の点がどこに置かれる、従ってそれは模造されたサンプルを特徴付けるために理想的ですか丁度示します。 私達は自動 SE がすべての薄膜の職員の連続的な努力の結果」言った、デニス Cattelan を HORIBA Jobin Yvon の薄膜部のディレクターであるので薄膜の部分に代わってこの賞を受け取って自慢しています。

Last Update: 14. January 2012 14:25

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