Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

Aist-NT SmartSPM 1000 de AtoomMicroscoop van de Kracht

100% automatiseerde systeem SmartSPM dat zijn scherp-randtechnologie van ultrasnelle, metrologische en hoge resolutiemetingen voor het meest geavanceerde materialenonderzoek bij de nano schaal op alle AFM en wijzen van STM aanbiedt.

Automatisering

Met SmartSPM geautomatiseerde klik-op-a-knoop geeft de laser-aan-uiteinde groepering onderzoekers vrij van deze routineverrichting. Deze eigenschap verstrekt ook een hoog niveau van de reproduceerbaarheid van de systeemaanpassing dat niet van de ervaring van de exploitant afhangt. Maar dit is enkel het begin van al automatisering ingebouwd in SmartSPM!

Op de automatische wijze zou de exploitant de belangrijkste sondeparameters en het vereiste aftastengebied slechts moeten specificeren om SmartSPM te laten de volledige systeemaanpassing uitvoeren, de sonde met de steekproefoppervlakte in dienst nemen en beginnen af te tasten. De minimale het leren periode evenals het zeer snelle begin van metingen (minder dan 5 minuten!) maken tot SmartSPM een perfecte oplossing voor om het even welke faciliteiten voor meerdere gebruikers.

Test uw cantilever alvorens metingen in werking te stellen

Slechts met SmartSPM is het geworden mogelijk om weerspiegelende het achtereinddeklaag van de cantilever te testen alvorens om het even welke metingen te beginnen door de distributie van de schommelingsomvang van de cantilever in kaart te brengen. Bovendien nadat de afbeelding wordt gedaan, kan de exploitant de meest aangewezen positie van de laservlek op de cantilever manueel kiezen die op zijn specifieke metingsvereisten wordt gebaseerd.

Vind Snel de juiste plaats op uw steekproef

De combinatie van het gemotoriseerde steekproef plaatsen in het horizontale vliegtuig en de optica van de hoge resolutie hoogste-mening staat onderzoekers toe om de oppervlakte gemakkelijk te vinden waar het verdere aftasten moet worden gedaan. Deze combinatie wordt ook aangedreven door gekalibreerde software video te grijpen, zodat kan de gebruiker interessante plaatsen op de steekproefoppervlakte identificeren en de cantilever daar bewegen door op het videobeeld op het computerscherm te klikken. Tijdens dit proces zijn er geen irriterende het knipperen lichten. Het optische beeld blijft absoluut duidelijk, omdat de laser AFM 1300 NM IRL is.

Breek de softwaregrenzen

Voor gevorderde gebruikers zowel zijn de ingebedde scripting taal (Lua) en DSP de programmeringsmacrotaal beschikbaar. Zij staan de gebruiker toe om hun ervaring SPM door de software SmartSPM met de uitbreidingen van het douaneprogramma uit te breiden in dergelijke categorieën gemakkelijk te personaliseren en te automatiseren zoals aftasten, krachtkrommen, nanolithography, hoog productieonderzoek (HTS) en meer.

Resolutie. Stabiliteit. Nauwkeurigheid

wegens de combinatie van het registratiesysteem met geringe geluidssterkte, unieke scanner, ging elektronika vooruit en de slimme aftastenprocedures die meer dan 100 jaar van gecombineerde SPM onderzoekervaring opnemen, met de gebruikers van SmartSPM van aist-NT kunnen unieke metingen uitvoeren die uiterst moeilijk zijn, indien mogelijk bij allen, voor andere instrumenten SPM.

De extra-brandkast en snelle uiteinde-steekproef overeenkomstenprocedure maakt het mogelijk tezelfdertijd om zelfs zeer scherpe breekbare uiteinden tegen om het even welke mogelijke schade te beschermen. wegens de beschikbaarheid van de ware wijze van het niet-contactaftasten kan men zelfs de gevoeligste en mechanisch gevoelige steekproeven meten. De unieke slimme aftastenprocedures staan de gebruiker toe om hoogte te verkrijgen - kwaliteitsbeelden op zeer opwindende voorwerpen als 120 NM Ag nanoparticles, de gelamelleerde structuren van DNA of van het polymeer.

wegens de zeer goed ontworpen en berekende bouw van AFM en de scanner, slechts het instrument van aist-NT kenmerkt dergelijke opmerkelijke mechanische stabiliteit, die de gebruiker toestaat om atoomresolutiebeelden met de zelfde 100 micronscanner te krijgen en tezelfdertijd hoogte te veroorzaken - kwaliteitsbeelden zonder enige lijsten van de trillingsisolatie. Dit is van extreem belang voor de integratie van AFM met de optische faciliteiten bovenop een optische lijst.

Last Update: 3. February 2012 16:20

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment