从碳设计 (CCHR)创新的碳核心高分辨率 AFM 探测

从碳设计 (CCHR)创新的碳核心高分辨率 AFM 探测

碳设计创新的 (C|D|I) 与是然后进一步处理和稳定与给予专利的 (AFM)技术造成与最大解决方法、 (CNT)想象寿命和稳定性的 CNT 探测的核心碳 nanotube 的碳核心高分辨率探测 (CCHR) 基本强制显微学起始时间。

CCHR 高分辨率 CNT AFM 探测为在计量学和材料学应用的详细想象设计。 标准 CNT 探测长度是 500 毫微米,与显示的 CNT 技巧 <200 nm="">

碳 Nanotube (CNT) 探测比传统硅探测可能提供更加稳健的有形资产。 CNT 探测不是易碎的,并且一样迅速地不受麻烦,象硅比 10X 更长的想象寿命探查允许极大。 有真的 multiwalled 碳 nanotubes,安全地 (MWCNTs)被挂接的 CCHR 探测,完全平直和正常对想象表面。 C|D|我其探测的用途 MWCNTs 能保证探测是非常坚韧的。 C|D|我所有权进程安全地附有 CNT 悬臂并且增强基本附件保证 CNT 安全地被挂接。 C|D|我技术允许探测制造与 CNT 技巧和稳定性的所有硅悬臂的好处和熟悉程度的。

福利

  • 在一个标准悬臂的被稳定的,稳健 CNT 探测
  • 与硅悬臂的便利的高分辨率 CNT 技巧
  • 更长的寿命允许用户范例与同一探测比较没有解决方法损失
  • 减少的破损、穿戴和污秽
  • 准确的长度、直径和角度实现一致的探测对探测结果

功能

  • CNT 直径 <40nm>
  • 整体 CNT 长度: <500nm>
  • 所有权安定涂层
  • 硅探查的想象 lifetime10X
  • 可用对 12KHz 和 70KHz 悬臂式 CCHR 悬臂特性
  • 曲率半径 <10nm>
  • 长宽比 100:1
  • 角位移 < 2="">
  • 可用可变的弹簧的常数

Last Update: 11. January 2012 07:57

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