從碳設計 (CCHR)創新的碳核心高分辨率 AFM 探測

從碳設計 (CCHR)創新的碳核心高分辨率 AFM 探測

碳設計創新的 (C|D|I) 與是然後進一步處理和穩定與給予專利的 (AFM)技術造成與最大解決方法、 (CNT)想像壽命和穩定性的 CNT 探測的核心碳 nanotube 的碳核心高分辨率探測 (CCHR) 基本強制顯微學起始時間。

CCHR 高分辨率 CNT AFM 探測為在計量學和材料學應用的詳細想像設計。 標準 CNT 探測長度是 500 毫微米,與顯示的 CNT 技巧 <200 nm="">

碳 Nanotube (CNT) 探測比傳統硅探測可能提供更加穩健的有形資產。 CNT 探測不是易碎的,并且一樣迅速地不受麻煩,像硅比 10X 更長的想像壽命探查允許極大。 有真的 multiwalled 碳 nanotubes,安全地 (MWCNTs)被掛接的 CCHR 探測,完全平直和正常對想像表面。 C|D|我其探測的用途 MWCNTs 能保證探測是非常堅韌的。 C|D|我所有權進程安全地附有 CNT 懸臂并且增強基本附件保證 CNT 安全地被掛接。 C|D|我技術允許探測製造與 CNT 技巧和穩定性的所有硅懸臂的好處和熟悉程度的。

福利

  • 在一個標準懸臂的被穩定的,穩健 CNT 探測
  • 與硅懸臂的便利的高分辨率 CNT 技巧
  • 更長的壽命允許用戶範例與同一探測比較沒有解決方法損失
  • 減少的破損、穿戴和汙穢
  • 準確的長度、直徑和角度實現一致的探測對探測結果

功能

  • CNT 直徑 <40nm>
  • 整體 CNT 長度: <500nm>
  • 所有權安定塗層
  • 硅探查的想像 lifetime10X
  • 可用對 12KHz 和 70KHz 懸臂式 CCHR 懸臂特性
  • 麴率半徑 <10nm>
  • 長寬比 100:1
  • 角位移 < 2="">
  • 可用可變的彈簧的常數

Last Update: 23. January 2012 02:52

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