碳設計創新的 (C|D|I) 與是然後進一步處理和穩定與給予專利的 (AFM)技術造成與最大解決方法、 (CNT)想像壽命和穩定性的 CNT 探測的核心碳 nanotube 的碳核心高分辨率探測 (CCHR) 基本強制顯微學起始時間。
CCHR 高分辨率 CNT AFM 探測為在計量學和材料學應用的詳細想像設計。 標準 CNT 探測長度是 500 毫微米，與顯示的 CNT 技巧 <200 nm="">
碳 Nanotube (CNT) 探測比傳統硅探測可能提供更加穩健的有形資產。 CNT 探測不是易碎的，并且一樣迅速地不受麻煩，像硅比 10X 更長的想像壽命探查允許極大。 有真的 multiwalled 碳 nanotubes，安全地 (MWCNTs)被掛接的 CCHR 探測，完全平直和正常對想像表面。 C|D|我其探測的用途 MWCNTs 能保證探測是非常堅韌的。 C|D|我所有權進程安全地附有 CNT 懸臂并且增強基本附件保證 CNT 安全地被掛接。 C|D|我技術允許探測製造與 CNT 技巧和穩定性的所有硅懸臂的好處和熟悉程度的。
福利
- 在一個標準懸臂的被穩定的，穩健 CNT 探測
- 與硅懸臂的便利的高分辨率 CNT 技巧
- 更長的壽命允許用戶範例與同一探測比較沒有解決方法損失
- 減少的破損、穿戴和汙穢
- 準確的長度、直徑和角度實現一致的探測對探測結果
功能
- CNT 直徑 <40nm>
- 整體 CNT 長度： <500nm>
- 所有權安定塗層
- 硅探查的想像 lifetime10X
- 可用對 12KHz 和 70KHz 懸臂式 CCHR 懸臂特性
- 麴率半徑 <10nm>
- 長寬比 100:1
- 角位移 < 2="">
- 可用可變的彈簧的常數