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规定在材料显微学的 Axio 印象新的标准

Published on May 5, 2009 at 8:25 AM

Axio 印象显微镜系统的第二代从卡尔蔡司的规定在材料显微学的新的标准。 是否在质量测试和保证,在材料分析或将来的材料的发展 - 光学质量、性能和舒适是 Axio 印象的主要好处。 显微镜系统为与其他系统和网络连接的通信提供清楚的运算和开放界面。 健壮的系统的提高能力使用户也适应将来的需要。

一个多晶的硅太阳能电池的微写器采取与从卡尔蔡司, brightfield, EC Epiplan- APOCHROMAT 50x/0.95 的 Axio 印象显微镜系统。

Axio 印象的特殊功能也包括其灵活性和关于范例的最大情报在所有不同的技术,即 brightfield、 darkfield 或者 C-DIC 范例区和一个光学系统的持续高程平差。

材料显微学的新的 Axio 印象生成是想象解决方法的理想的平台在数字式显微学 - 准确和再现结果的。 四个版本是可用的 - 从编码和部分动力化到充分地动力化 - 单个满足在一个显微镜系统的用户’需求材料分析、材料发展和质量检验的。 M2m 和 Z2m 版本功能动力化了反射光光束路径并且动力化了 Z 驱动器。 Z2m 设计的高性能焦点保证一致的精确度在 10 毫微米的步骤宽度甚而在连续作业在高负荷。 此外,此设计以自动组件识别为特色。 动力化的版本, TFT 显示的用户设计完全地被修改保证更加运行的便利。

另外的技术改善包括这个功能到联合收获机被反射的和对光亮域膜片和孔径光阑飞机的透过光到混杂的光,存取在反射光光束路径在所有版本,细致的推进瘤和细致的推进盘的交换性和更加同类的照明的一个最近被设计的传输光光束路径在透过光甚而与低目的放大。

的 EC Epiplan-APOCHROMAT 目的线路可以使用与 Axio 印象适应高需求并且提供在材料显微学的最佳结果。 EC Epiplan- NEOFLUAR HD/DIC 和 EC Epiplan-NEOFLUAR HD 排行在另外的版本的结果被符合对不同的用户要求。 目的优质 EC EPIPLAN 线路将适应用户需要面对在 materialography 的特定定期任务。 如果需要一个更长的工作距离, LD 版本提供在这个范例的必要的空间。

显微镜系统主要为专门制作金属工艺的需要、开采和光致电压的行业和研究机构在材料学和地质领域。 它可以用 AxioCam 照相机和 AxioVision 软件补充从卡尔蔡司。 然而,这个立场也是可用的在非金属包括 (NMI)、微粒分析程序和 LSM 700 完整系统。

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